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产品说明
光波动场三维显微镜
立即、更准确地实现类似物体的可视化、量化
MINUK（ミヌック）是什么？
采用放置式·非破坏·非接触的3D观测技术，无需物理聚焦，即可随时观察测量任何部位!
通过向目标物体发射激光，波面会因厚度和折射率的变化而发生改变。
通过波面传感器捕捉该变化，在专用软件上进行数值分析并重现图像。
MINUK开发思路
以往的思路
当我们想要观测某物时，需将其投射至镜头中观察。
通过灵活运用镜头，来获取【接近真实】的信息。
→为了能最大程度地接近真实，对于校正、运算及机械结构的技术升级迭代，也提出了要求。
新思路
洞察真实。测量未来。
直接获取光信息并进行运算，对光波的传播方式予以计算与成像。
→通过确立高速运算处理技术，实现对真实的精准捕捉。
特点
可评价nｍ级的透明的异物・缺陷 一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息 无需对焦，可高速测量 可非破坏・非接触・非侵入的测量 可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置
规格
| 分辨率 x , y | 6 9 1n m（ 一次拍照）、4 8 8 n m（ 合成） |
| 视野 x , y | 7 0 0×7 0 0μm |
| 分辨率 z | 10nm（相位差） |
| 视野 z | ±700μm |
| 样品尺寸 | 10 0×8 0×t 2 0 mm（安装通用样品架时） |
| 样品台 | 微动X Y样品台（自动） X:±10 mm Y：±10 mm 粗动样品台 X：12 9 mm Y：8 5 mm |
| 激光 | 波长 6 3 8 nm 输出 0 .3 9 mW 以下 C la s s1 ( 对测量样品的照射强度) |
| 尺寸（长×宽×高）mm | 本体：5 0 5（W）×6 3 0（D）×4 3 9（H） ± 2 0 m m ※不含P C、附属品 |
| 重量 | 41k g |
| 功耗 | 本体：2 9 0 VA ※不含P C、附属品 |
测量案例
将肉眼无法看见的透明薄膜表面可视化・定量化
可以非接触、非破坏性、非侵入性地获得nm级的形状信息。通过一次拍照即可获取深度方向的信息，可以将透明薄膜表面上肉眼不可见的划痕和缺陷的横截面形状数值化实现可视化。
观察透明薄膜内部的填充剂
肉眼无法看到的透明薄膜内部的填充剂，通过一次拍照即可观察到。此外，通过在测量后改变深度方向的焦点，可以识别到各个深度的填充剂。
