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分光辐射照度测量系统

分光辐射照度测量系统

产品信息 特殊长度 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围...

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0512-62589919
产品介绍
  • 产品信息
  • 设备构成
  • 测量案例

产品信息

    特殊长度

该检测器
是一种高性能的分光光度计,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。

覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围

带软件的样品照明电源,测量仪器批量控制
LIV测量,脉冲点测量,样品温控测量

设备校准的标准灯由我们自己的部门提供,并由 JCSS 校准公司注册。


    评价项目

照度、辐照度

光谱数据(光谱辐照度)

其他测量项目
 三刺激值 XYZ、色度坐标 xy、uv、
 u'v'相关色温、Duv、主波长、刺激纯度 显
 色指数 Ra、R1 至 R15
 峰值波长、半宽
 光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD


设备构成

    单点型

1.jpg    

        半导体晶圆的面内分布测量

        玻璃基板的面内分布测量


        多点型

2.jpg    

        实时测量

        流向品质管理

        真空室适用


        导线型

3.jpg    

        实时测量

        宽度方向品质管理


测量案例

   超硬涂层的膜厚解析

4.jpg    




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