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产品信息
线扫描膜厚仪【离线型】
产品信息 特点 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量(已取得专利) 实现高速测量(500万点...
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0512-62589919

产品信息

  特点

● 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

● 硬件&软件均为创新设计

● 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

● 实现高精度测量(已取得专利)

● 实现高速测量(500万点以上/分)

   

  


产品规格

测量范围0.1~300 μm
测量宽度250 mm
测量间隔1 ms~
设备尺寸(W×D×H)459×609×927 mm
重量60 kg
功耗AC100 V±10% 125 VA


测量例

250mm宽的薄膜案例

   

  


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