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膜厚测量系统 FE-3700/5700

产品信息 特殊长度 可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。 除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外,它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。 用法 LCD ITO...

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产品信息

特殊长度

可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外,它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。

 

用法
  • LCD
    ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass

  • TFT
    SiN / a-Si / 玻璃

  • 有机EL
    有机EL / ITO / 玻璃

  • PDP
    介电层/玻璃

 



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