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相位差测量装置 RETS-100nx New

产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置,从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设备 测量项目...

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0512-62589919
产品介绍
  • 产品信息
  • 规 格
  • 光学系统

产品信息

特殊长度
仅使用独特的分光镜才能进行的高精度测量

■ 高精度


 通过波长测量实现多重高精度

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   ,专有的高性能多通道光谱仪使用
   它可以获得大量的信息传输,实现高精度测量
    (获得的透射信息约为500个波长,约为50倍)其他公司的产品)

 


■ 宽测量范围(保留范围:0 至 60000 nm)

■ 测量范围广 即使强度相同,也可以根据其他波长数据进行计算

 


■ 了解延迟波长色散形状

■ 可以测量显示延迟波长色散形状的反向色散样品。

 

超高延迟测量-超双折射薄膜的高速高精度测量-

■ 高延迟
■ 高延迟测量 即使有如此高的延迟,也可以使用独特的算法在没有参数的情况下进行分析。
超高Re.60000nm兼容

 

多层测量-各种薄膜层压状态的无损和无损测量不剥落-

多层测量 无需剥离,可原样测量

 

轴向角度校正功能-即使样品安装未对准也可轻松且可重复地进行测量-


  更换样品10 次,比较有无角度校正的结果[样品:相位差膜 R85]

将样品放置10次,比较有无角度校正的结果无校正:重新定位引起的变化:0.13,有校正:重新定位引起的变化:0.013或更小

 

简单的软件——测量时间和处理时间大大减少。大大提高了可操作性-

简单的软件所有操作都可以在一个屏幕上完成!

规 格

规格
 模型 参考测量装置 RETS-100nx
 测量项目(薄膜、光学材料) 延迟(波长色散)、慢相轴、Rth * 1、3D 折射率* 1等。
 测量项目(偏光板) 吸收轴、偏振度、消光比、各种色度、各种透射率等
 测量项目(液晶单元) 单元间隙、预倾角*1、扭曲角、配光角等
 参考测量范围 0-60,000nm
 参考重复性 3σ ≤ 0.08nm(晶体波片约600nm)
 单元间隙测量范围 0 至 600 μm(当 Δn = 0.1 时)
 细胞间隙重复性 3σ ≤ 0.005 μm(当单元间隙约为 3 μm 且 Δn = 0.1 时)
 轴检测重复性 3σ≤0.08°(晶体波片约600nm)
 测量波长范围 400-800nm(其他可选)
 探测器 多通道光谱仪
 测量直径 φ2mm(标准规格)
 光源 100W卤素灯
 数据处理部 个人电脑、显示器
 舞台尺寸:标准 100mm x 100mm(固定载物台)
 选项 ?超高延迟测量
 ?多层测量
 ?轴角校正功能
 ?自动XY平台
 ?自动倾斜旋转平台

* 1 需要自动倾斜旋转平台(可选)

光学系统

特殊长度
固定载物台【选项:轴角修正功能】

固定舞台

 

自动倾斜旋转平台 [选项]

自动倾斜旋转平台

 

自动 XY 平台 [选项]

自动XY平台



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