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相位差测量装置 RETS-100nx New

相位差测量装置 RETS-100nx New

RETS-100nx是一款适用于各种薄膜的相位差(延迟)测量装置,如OLED偏光片、多层相位差膜、IPS液晶相位差膜偏光片等。可以高速·高精度测得超高(Re.60000nm)相位差。“不剥离、非破坏”状态下,测量多层薄膜的每层相位差和轴角。此外,软件操作简单、使用方便且测量精度高。...

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0512-62589919
产品介绍
  • 产品信息
  • 规 格
  • 光学系统

产品信息

特点

采用大塚电子自社的多通道瞬间光谱仪实现高精度测量


■ 高精度

测量多波长实现高精度

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<高精度的原因>

使用大塚电子自社的高性能瞬间多通道光谱仪。

■获得数据量很多的透过率信息,实现高精度测量。

获得约个500波长的透过率信息、是其他公司同类产品的约50倍


■ 宽测量范围(保留范围:0 至 60000 nm)

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可测量相位差的波长分散形状

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超高相位差测量 -可高速·高精度测量超双折射薄膜-

■ 相位差

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测量测量 -不剥离、非破坏测量多层薄膜的每层相位差及轴角-

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轴角度补正功能 -可补正样品设置的偏移,轻松实现轴角测量的高再现性-

样品重复取放10次,对比有·无角度补正的数据

【 样品:相位差膜R85 】

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简单的软件——测量时间和处理时间大大减少。大大提高了可操作性-

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规 格

规格

* 1 需要自动倾斜旋转平台(可选)

 项目

 相位差测量装置RETS-100nx

 测量项目(薄膜、光学材料)

 相位差(波长分散)、慢轴、Rth*1、3次元折射率*1

 测量项目(偏光片)

 吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等

 测量项目(液晶Cell)

 Cell Gap、预倾角*1扭曲角配向角等

 相位差测量范围

 0 ~ 60,000nm

 相位差重复性

 3σ≦0.08nm (水晶波长板 约600nm)

 Cell Gap测量范围

 0 ~ 600μm (Δn=0.1的情况)

 Cell Gap重复性

 3σ0.005μm Cell Gap3μm、Δn=0.1的情况

 轴检出重复性

 3σ≦0.08° (水晶波长板 约600nm)

 测量波长范围

 400 ~ 800nm (可选择其他波长)

 检出器

 瞬间多通道光谱仪

 测量光斑

 φ2mm (标准式样)

 光源

 100W 卤素灯

 数据处理部

 PC、显示器

 平台尺寸标准

 100mm × 100mm (固定平台)

 选配

· 超高相位差测量
· 多层测量
· 轴角度补正功能
· 自动XY平台
· 自动倾斜旋转平台



光学系统

特点
固定载物台【选项:轴角修正功能】

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自动倾斜旋转平台 [选项]

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自动 XY 平台 [选项]

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