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功能材料评估机器

  • 椭偏仪 FE-5000/5000S
    产品信息 特点 可在紫外和可见(250至800nm)波长区域中测量椭圆参数 可分析纳米级多层薄膜的厚度 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱 通过可变反射角测量,可详细分析
  • 线扫描膜厚仪【离线型】
    产品信息 特点 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量(已取得专利) 实现高速测量(500万点
  • 小角激光散射仪  PP-1000
    PP-1000小角激光散射仪,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scattering,简称SALS),可以对高分子材料和薄膜进行原位检测,实时解析。与SAXS和SANS的装置相比,检测范围更广。利用偏光Hv散射测量可以进行光学各向异性的评价,解析结晶性薄膜的球晶半径,偏光Vv散射测量可以进行聚合物混合的相关距离的分析。
  • 高速相位差测量装置 RE-200
    产品信息 特 点 可测从0nm开始的低(残留)相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) (相当于世界最快速的0.1秒以下来处理) 无驱动部,重复再现性高 设置的测量项目少,测量简单
  • MCPD series 在线评估测试系统
    本公司的MCPD series在线胶卷评价系统,由于光学式非接触·非破坏的膜厚,浓度,颜色等的检查可能。可测定膜厚范围为65nm~92μm和薄膜到厚膜都对应。(折射率1.5时)测量原理为分光干涉方式,在实现高测量再现性的同时,还支持多层厚度测量。由于采用了独自算法,可以高速实时监控,所以作为在线胶片监控,我们提出了最适合的系统。
  • 线扫描膜厚仪【在线型】
    产品信息 特点 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量(已获取专利) 实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样
  • 相位差测量装置 RETS-100nx New
    产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置,从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设备 测量项目

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