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紫外分光配光测量系统

产品信息 特征 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 支持从 LED 芯片到模块和应用...

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产品介绍
  • 产品信息
  • 规格
  • 设备配置
  • 测量示例

产品信息

特征
  • 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量

  • 从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量

  • 涵盖从紫外线到可见光的波长范围

  • 支持从 LED 芯片到模块和应用产品的广泛样品

  • 用软件批量控制电源和测量仪器

 

评价项目
  • 紫外线辐射强度或辐照度中的光分布角分布

  • 最大光度、光束开度、光束光通量

  • 辐射通量、辐射强度、辐照度

  • 总光通量

  • 光谱数据

  • 根据配光测量系统的测量项目  总
     光通量、色度坐标xy、uv
    、u'v'相关色温、Duv、主波长、刺激纯度显
     色指数Ra、R1至R15
     峰值波长、半值范围

 

规格

规格

紫外分光光度分布测量系统技术指标

* 1:测量期间安装样品的方向。 
    底座朝下:水平面安装
    底座侧:垂直面 安装 
*2:配光测量的测量波长范围为250~850nm 
*3:可选产品请参考总光通量测量系统规格页.

设备配置

GP-510U

GP-510U

桌面型设备。将 LED 芯片放置在水平面上并进行测量。
受光部一侧为1轴,样品侧为1轴的驱动系统。
由于样品可以放置在平坦的表面上,因此测量再现性和位置调整很容易。
适用于测量LED芯片等不易安装的小样品。

 

GP-500 / GP-1100

GP-500 / GP-1100

桌面型设备。这是一般配光装置的光学系统。
受光部分与样品部分高度相同,样品侧采用2轴驱动系统。
它可以处理从芯片类型到小模块样品的广泛产品。

 

GP-2000

GP-2000

大型设备。安装需要一个使用一个暗室的地方。
该设备用于测量大而重的光源,如泛光灯。

 

测量示例

UV-LED 测量结果

紫外分光光度分布测量系统测量实例

紫外分光光度分布测量系统测量实例

这是用光谱光分布测量 UV-LED 的结果。
根据辐射强度绘制配光曲线。
通过对光分布测量得到的每个θ处的光谱辐射强度
使用球面系数法,可以得到UV-LED发射总光谱通量。



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