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分光辐射照度测量系统

产品信息 特殊长度 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围...

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产品介绍
  • 产品信息
  • 设备构成
  • 测量案例

产品信息

特殊长度
  • 该检测器
    是一种高性能的分光光度计,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得多项成果

  • 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围

  • 带软件的样品照明电源,测量仪器批量控制
    LIV测量,脉冲点测量,样品温控测量

  • 设备校准的标准灯由我们自己的部门提供,并由 JCSS 校准公司注册。

评价项目
  • 照度、辐照度

  • 光谱数据(光谱辐照度)

  • 其他测量项目
     三刺激值 XYZ、色度坐标 xy、uv、
     u'v'相关色温、Duv、主波长、刺激纯度 显
     色指数 Ra、R1 至 R15
     峰值波长、半宽
     光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD

设备构成

单点型

•半导体晶圆的面内分布测量

•玻璃基板的面内分布测量

多点型

•实时测量

•流向品质管理

•真空室适用

导线型

•实时测量

•宽度方向品质管理

测量案例

超硬涂层的膜厚解析



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