膜厚分析仪是用来检测镀膜的重要仪器，在应用领域中发挥着不可或缺的作用，那么它具有哪些特点呐？今天小编详细介绍下"薄膜测厚仪的优势，膜厚分析仪的特点".

一、薄膜测厚仪的优势

1、可提供最高的精确度和测量分辨率

2、其光谱范围更宽，可同时测量多种不同组分的材料

3、可分析隔膜在近红外能谱的全光谱响应并可提供最准确的厚度测量

4、提供智能化锂电子电池涂布应用软件包，结合使用，能够自动识别正极或者负极的涂布段与间隙段。

5.能精准的测出面密度，尤其适用于陶瓷或者其他类似无机材料涂布的隔膜

二、膜厚分析仪的特点

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上先进的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。

无损：测试前后，样品无任何形式的变化。

直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析，抽真空可以测试从Na到U.

可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。

满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种先进的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。

简易：对人员技术要求较低，操作简单方便，并且维护简单方便。

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