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薄膜测厚仪的优势,膜厚分析仪的特点


膜厚分析仪是用来检测镀膜的重要仪器,在应用领域中发挥着不可或缺的作用,那么它具有哪些特点呐?今天小编详细介绍下"薄膜测厚仪的优势,膜厚分析仪的特点".

一、薄膜测厚仪的优势

1、可提供最高的精确度和测量分辨率

2、其光谱范围更宽,可同时测量多种不同组分的材料

3、可分析隔膜在近红外能谱的全光谱响应并可提供最准确的厚度测量

4、提供智能化锂电子电池涂布应用软件包,结合使用,能够自动识别正极或者负极的涂布段与间隙段。

5.能精准的测出面密度,尤其适用于陶瓷或者其他类似无机材料涂布的隔膜

二、膜厚分析仪的特点

快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上先进的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。

无损:测试前后,样品无任何形式的变化。

直观:实时谱图,可直观显示元素含量。

测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U.

可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

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