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膜厚分析仪产品特点,测厚仪和膜厚仪一样吗


膜厚分析仪能够实现高精度测量、高速测量、不受偏差.最大程度程度减少材料生产时的质量损耗.下面小编来给大家详细介绍一下"膜厚分析仪产品特点,测厚仪和膜厚仪一样吗"

一、膜厚分析仪产品特点

·采用线扫描方式检测整面薄膜

·硬件·软件均为创新设计

·作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

·实现高精度测量(已获取专利)

·实现高速测量

·不受偏差影响

·可对应宽幅样品(TD方向最大可测量10m)

二、测厚仪和膜厚仪一样吗

测厚仪的原理:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量,当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度.凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量.

凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量,如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类.可以对各种板材和加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度.广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域.

膜厚仪:属于测厚仪的一种,膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度,手持式的有涂层测厚仪,为磁阻法和电涡流原理,台式的不同原理也有好多种,电感原理等.

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