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膜厚分析仪产品特点,膜厚分析仪如何正确使用


膜厚分析仪能够精确产品测量,实现产品的高品质,生产的高效率,成本的低损耗.下面小编来给大家详细的讲讲"膜厚分析仪产品特点,膜厚分析仪如何正确使用"

一、膜厚分析仪产品特点

·采用线扫描方式检测整面薄膜

·硬件·软件均为创新设计

·作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

·实现高精度测量(已获取专利)

·实现高速测量

·不受偏差影响

·可对应宽幅样品(TD方向最大可测量10m)

二、膜厚分析仪如何正确使用

膜厚仪又名膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪.手持式的磁感应原理是,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度.也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度.那么,如何正确操作使用膜厚仪

测定准备

(1)确保电池正负极方向正确无误后设定.

(2)探头的选择和设定:在探头上有电磁式和涡电流式2种类型.对准测定对象,在本体上进行设定.

测定方法

(1)探头的选择和安装方法:确认电源处于OFF状态,与测定对象的质地材质接触,安装LEP-J或LHP-J.

(2)调整:确认测定对象已经被调整.未调整时要进行调整.

(3)测定:在探头的末端加一定的负荷,即使用[一点接触定压式].抓住与

测定部接近的部分,迅速在与测定面成垂直的角度按下.下述的测定,每次都

要从探头的前端测定面开始离开10mm以上.使用管状的东西连续测定平面时,如果采用探头适配器,可以更加稳定地进行测定.

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