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膜厚测试仪怎样测量更准确?校准方法


膜厚测试仪是科技的新产物,主要用于测量薄膜以及产品的的厚度,膜厚测试仪的种类有许多种,区别主要是测试方法的不同,我们在使用时,都希望能测量的更加精准,今天小编详细介绍下"膜厚测试仪怎样测量更准确?校准方法".

一、膜厚测试仪怎样测量更准确?

基体金属特性

对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似.

对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似.

基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度,无损检测资源网 如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准.

边缘效应

不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量.

曲率

不应在试件的弯曲表面上测量.

读数次数

通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数.覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此.

表面清洁度

测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质.



二、膜厚测试仪校准方法

1仪器校零

(1)将测量探头压在铁基上(或不带涂层的测量体上),沧州欧谱再轻按一下校零键ZERO进行校零.在按ZERO键时,测量探头在铁基上不要晃动.同时要注意,只有在按完ZERO键后,才能提起探头,否则,校零不正确.

(2)将测量探头提起(或不带涂层的测量体上),观察铁基上的测量值,若测量值在0附近,说明校零成功,否则,应得新校零.

2仪器校满度

(1)根据要测量的涂层厚度,选择   适当的标准膜片,进行满度校准.

(2)先将标准膜片放在铁基上(或不带涂层的测量体上).

(3)再将测量探头压在标准膜片上,测量值就显示在显示器上,若测量值与标准膜片不同,测量值可通过加1键或减1键来修正.修正时,测量探头一定提起,否则,按加1键或减1键无效.

(4)为保证校满度的准确性,可通过多次测同一标准膜片来验证.

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