使用薄膜厚度测量仪器距离不能太远，避免结果不准确，表面保持垂直才可以，方向不对可能会出现很大的问题，另外特征是数据实时显示、自动统计、打印。接下来为大家介绍一下详细内容。
一、薄膜厚度测量仪器的怎么使用
1、测距不能相距太远
首先，在测量的时候，标准片集体的金属磁性，以及表面粗糙程度，和试件相比较，不能相距太远。
2、表面保持垂直
在测量的时候，侧头的方向应该是和式样的表面保持垂直，因为如果方向的问题不注意好了可能会出现很大的问题，最简单的就是导致测量结果不准确，就等于白白测量了。
3、可使用弯曲试件
不要在已经弯曲的试件表面进行测量，这是一个常识问题，试件弯曲的厚度和实际的情况完全不一样， 影响测量的结果。测量之前检查一下周围有没有其他的电气设备，有些设备会有很大的磁场，直接回影响到测量的效果。
4、保持恒定压力
在测量的时候，要保持一个恒定的压力，测量的时候只有在恒定的压力下才可以确保读数是准确的。但是压力并不是很容易控制的， 所以需要有比较专业的工作人员在一边看着，随时关注压力，避免出现很大的浮动。
二、薄膜厚度测量仪器的技术特征
1、网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
2、微电脑控制、液晶显示
3、接触式测量
4、测头自动升降
5、手动、自动双重测量模式
6、数据实时显示、自动统计、打印
7、显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
8、标准接触面积、测量压力（非标可选）
9、标准量块标定
10、微型打印机
11、RS232接口
FE-300 膜厚量测仪
FE-300 膜厚量测仪
以上是对“薄膜厚度测量仪器的怎么使用，有什么特征”的介绍，希望能够帮助大家。
