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薄膜厚度测量仪器有什么特征以及怎么使用

作者:admin时间:2021-09-10 06:25:22144 次浏览

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使用薄膜厚度测量仪器距离不能太远,避免结果不准确,表面保持垂直才可以,方向不对可能会出现很大的问题,另外特征是数据实时显示、自动统计、打印。...

使用薄膜厚度测量仪器距离不能太远,避免结果不准确,表面保持垂直才可以,方向不对可能会出现很大的问题,另外特征是数据实时显示、自动统计、打印。接下来为大家介绍一下详细内容。
 

一、薄膜厚度测量仪器的怎么使用

1、测距不能相距太远
首先,在测量的时候,标准片集体的金属磁性,以及表面粗糙程度,和试件相比较,不能相距太远。
2、表面保持垂直
在测量的时候,侧头的方向应该是和式样的表面保持垂直,因为如果方向的问题不注意好了可能会出现很大的问题,最简单的就是导致测量结果不准确,就等于白白测量了。
3、可使用弯曲试件
不要在已经弯曲的试件表面进行测量,这是一个常识问题,试件弯曲的厚度和实际的情况完全不一样, 影响测量的结果。测量之前检查一下周围有没有其他的电气设备,有些设备会有很大的磁场,直接回影响到测量的效果。
4、保持恒定压力
在测量的时候,要保持一个恒定的压力,测量的时候只有在恒定的压力下才可以确保读数是准确的。但是压力并不是很容易控制的, 所以需要有比较专业的工作人员在一边看着,随时关注压力,避免出现很大的浮动。
 

二、薄膜厚度测量仪器的技术特征

1、网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
2、微电脑控制、液晶显示
3、接触式测量
4、测头自动升降
5、手动、自动双重测量模式
6、数据实时显示、自动统计、打印
7、显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
8、标准接触面积、测量压力(非标可选)
9、标准量块标定
10、微型打印机
11、RS232接口

薄膜厚度测量仪的特征以及怎么使用
 FE-300 膜厚量测仪
 
以上是对“薄膜厚度测量仪器的怎么使用,有什么特征”的介绍,希望能够帮助大家。
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