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光学膜厚测试仪的特点及使用注意事项

作者:admin时间:2021-09-14 01:51:07162 次浏览

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光学膜厚测试仪具有的特点有非接触式测量、测量数据多样、测量迅速、适用范围广等等,使用仪器时,都需要进行光学校准,而且测量时基体厚度不宜过薄,不然会影响仪器的测量精...

光学膜厚测试仪具有的特点有非接触式测量、测量数据多样、测量迅速、适用范围广等等,使用仪器时,都需要进行光学校准,而且测量时基体厚度不宜过薄,不然会影响仪器的测量精度。那么接下来就为大家详细介绍一下相关内容。

一、光学膜厚测试仪的各项特点

1、非接触式测量
光学膜厚测试仪采用的是光的反射原理进行物体厚度的测量,属于非接触式测量方法,不会对物体造成任何损伤,能够保证物体的完整性,这也是光学膜厚测量仪受到众多消费者喜爱的原因。
2、测量数据多样
可以测得物体的膜厚度和n,k数据,这是其它型号膜厚仪做不具备的特点。
3、测量迅速
光学膜厚测试仪的测量过程非常迅速,因为该设备采用了先进的结构设计,能够极大程度的提升测量效率,相比于传统厚度测量仪显得非常轻巧方便。
4、适用范围广
光学膜厚测试仪的适用范围非常广泛,从普通家用到工厂的工业生产,在到最后的大学实验室和科学研究所,均可以看到它的身影,由此可见它的使用范围更加广泛,能够作业的场合也变得更加多样化。

二、光学膜厚测试仪的使用注意事项

1、零点校准
在每次使用膜厚仪之前需要进行光学校准,因为之前的测量参数会影响该次对物体的测量,零点校准可以消除前次测量有参数的影响,能够降低测量的结果的误差,使测量结果更加精确。
2、基体厚度不宜过薄
在使用光学膜厚测试仪对物体进行测量时基体不宜过薄,否则会极大程度的影响仪器的测量精度,造成数据结果不准确,影响测量过程的正常进行。
3、物体表面粗糙程度
对于被测物体的表面不宜太过粗糙,因为粗糙的表面容易引起光的衍射,降低了光学测量仪的测量精度,造成很大的误差。所以被测物体的表面应该尽量保持光滑,以保证测量结果的精确性。

光学膜厚测试仪的特点及使用注意事项

EMIOS 非接触式光学膜厚仪
 
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