光学膜厚测量仪是非接触, 非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持，要注意在测量中测头要放置平稳，下面具体介绍一下“光学膜厚测量仪的原理及注意事项”。
一、光学膜厚测量仪的原理
1、SpectraThick series的特点是非接触, 非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持Windows操作系统等。ST series是使用可视光测量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金属薄膜厚度的仪器。
2、测量原理如下：在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光，这时光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层 (wafer或glass)之间的界面反射。这时薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。SpectraThick series就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。
二、使用光学膜厚测试仪的注意事项
1、如果在测量中测头放置不稳，会引起测量值与实际值偏差较大；
2、如果已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内；
3、仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值；
4、为使测量更加准确，可在一个点多次测量，并计算其平均值作为终的测量结果；
5、显示测量结果后，一定要提起测头距离工件10mm以上，才可以进行下次测量；
6、在测厚仪测量的时候探头要平稳放置，力气不能过大，速度也不能是非常快的点测；光学膜厚测量仪，测试的时候探头千万不要在被测表面划来划去，这样会非常容易造成涂层测厚仪探头损坏。
以上是“光学膜厚测量仪的原理及注意事项”的介绍，有问题请随时联系我们。
