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光学膜厚测量仪有何优势,要注意什么?

作者:超级管理员时间:2021-12-04 09:53:32174 次浏览

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​光学膜厚测量仪能够避免前期的样品处理,可以直接应用于被测量物体,从而节省 了不少的工作以及资源,下面具体介绍一下“光学膜厚测量仪的优势及注意事项” 。...

光学膜厚测量仪能够避免前期的样品处理,可以直接应用于被测量物体,从而节省 了不少的工作以及资源,下面具体介绍一下“光学膜厚测量仪的优势及注意事项” 。

光学膜厚测试仪.jpg

一、光学膜厚测量仪的优势

1、它能够避免前期的样品处理,甚至是不需要样品来进行试样工作。

2、传统的测厚仪,在测量物件时,需要进行样品的处理,使样品与被测量物件一 致,在测量时直接应用于样品测量。而光学测厚仪的使用是直接应用于被测量物体 。这样的一个过程便为我们节省了不少的工作以及资源。

3、利用光学膜厚测量仪,它可以避免了被测量物件的损坏。之所以普通传统的测 厚仪需要用到样品来进行试测,就是因为在测量时,会对物体造成一定程度的表面 损坏,为了避免物件的损坏,才会需要应用样品。

4、而光学的测厚仪,虽然直接应用于物件表面,但其它放射出来的光却是一样没 有实质的事物,在测量的时候并不会对物件造成什么样的损伤。

二、使用光学膜厚测试仪的注意事项

1、如果在测量中测头放置不稳,会引起测量值与实际值偏差较大;

2、如果已经进行了适当的校准,所有的测量值将保持在一定的误差范围内;

3、仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值;

4、为使测量更加准确,可在一个点多次测量,并计算其平均值作为终的测量结果 ;

5、显示测量结果后,一定要提起测头距离工件10mm以上,才可以进行下次测量;

6、在测厚仪测量的时候探头要平稳放置,力气不能过大,速度也不能是非常快的 点测;光学膜厚测量仪,测试的时候探头千万不要在被测表面划来划去,这样会非 常容易造成涂层测厚仪探头损坏。

以上是“光学膜厚测量仪的优势及注意事项”的介绍,有问题请随时联系我们。

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