粒径与Z是唯一通过并行测量技术同步获得的eta电位数据分析仪。
Z是唯一以多角度测量分析的eta电位技术(MP-PALS）。
独特的辅助处理系统，自动加注样品，自动排除样品气泡，确保无干扰。
4.分析范围广。离心沉降、光射式和超声波吸收式粒径分离器可分析在1微米以上和1微米以下。由于微机的普通温度，分析方法需要复杂的计算。例如，动态散射和光初始粒径分析可以快速计算粒径分布。
1.专利非侵入性背散射技术(NIBS技术)，减少多重散射的影响，真正扩大可测样品的浓度范围；
2.雪崩光电二极管(APD)检测器提供高灵敏度；
3、稳定的HE-Ne确保数据的重复性；
4、采用新的高速数字相关器；
5、在300000:激光衰减器可根据样品的实际情况自动调节；
6.半导体温度控制装置能准确稳定样品池温度2-90℃。
以上就是关于“粒径分析仪的核心技术是什么粒径分析仪的特点是什么？”的详细内容，如果需要了解更多信息，请联系我们