粒径分析仪的核心技术有哪些,粒径分析仪的特点是什么

1、惟一通过“并行测量”技术同步获得粒径与Zeta电位数据的分析仪。

2、惟一以“多角度测量”分析Zeta电位的技术（MP-PALS）。

3、独有的辅助处理系统，自动加注样品、自动排除样品气泡，确保无干扰。

4、分析范围较广，一微米以上及一微米以下皆可分析有离心沉降，光线射式，及超音波吸收式粒径分别仪。由于微电脑的普通温化，使得需要复难计算的分析方法。像动态散射式，光线初式粒径分析法变成可能，以迅速计算的粒体的粒径分布。

1、专利的非侵入式背散射技术（NIBS技术），可以减低多重散射的影响，真正拓展了可测样品的浓度范围；

2、采用的雪崩式光电二极管（APD）检测器，提供了高的灵敏度；

3、稳定的HE-Ne激光器确保数据的重复性；

4、采用新的高速数字相关器；

5、在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器，可以根据样品的实际情况自动控制入射光强度；

6、的半导体控温装置，可以将样品的池温度准确、稳定在2—90℃。