1、惟一通过“并行测量”技术同步获得粒径与Zeta电位数据的分析仪。
2、惟一以“多角度测量”分析Zeta电位的技术(MP-PALS)。
3、独有的辅助处理系统,自动加注样品、自动排除样品气泡,确保无干扰。
4、分析范围较广,一微米以上及一微米以下皆可分析有离心沉降,光线射式,及超音波吸收式粒径分别仪。由于微电脑的普通温化,使得需要复难计算的分析方法。像动态散射式,光线初式粒径分析法变成可能,以迅速计算的粒体的粒径分布。
1、专利的非侵入式背散射技术(NIBS技术),可以减低多重散射的影响,真正拓展了可测样品的浓度范围;
2、采用的雪崩式光电二极管(APD)检测器,提供了高的灵敏度;
3、稳定的HE-Ne激光器确保数据的重复性;
4、采用新的高速数字相关器;
5、在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器,可以根据样品的实际情况自动控制入射光强度;
6、的半导体控温装置,可以将样品的池温度准确、稳定在2—90℃。
上述就是关于“粒径分析仪的核心技术有哪些,粒径分析仪的特点是什么”的详细介绍,如果您还有其他问题,可以随时与我们联系。