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固体表面zeta如何判断电位分析仪是否正常,zeta需要考虑电位分析仪的大颗粒

作者:优化一组时间:2022-02-03 06:00:09169 次浏览

信息摘要:

zeta电位分析仪NanoPlus是麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司一款新型的、多用途分析仪,是采用光子相关光谱法、电泳光散射以及FST技术来分析的麦克默瑞提克纳米粒度仪和zeta电位一体机,并可测定固体以及高浓度悬浮液的zeta电位,符合ISO标准....

zeta电位分析仪NanoPlus是麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司一款新型的、多用途分析仪,是采用光子相关光谱法、电泳光散射以及FST技术来分析的麦克默瑞提克纳米粒度仪和zeta电位一体机,并可测定固体以及高浓度悬浮液的zeta电位,符合ISO标准.

固体表面zeta如何判断电位分析仪是否正常

1.分析软件处理分析图像,具有直观、图像、准确、测试范围宽等特点.粒度分布等分析结果可以观察粒度形态或获得.

2、蒸馏水作为分散介质,不添加表面活性剂,制备3种不同浓度的金刚砂样品溶液,超声搅拌1min,然后进行粒度测定.粉末样品浓度小时,粒径小,粒度分布范围窄(从粒度分布曲线可见).

3、固体表面zeta电位分析仪,当粉体试样浓度较大时,因复散射及颗粒容易团聚,所测得的粒径偏大、粒度分布范围较宽(由其粒度分布曲线可看出),测试结果误差较大.但上述结果并不意味着粉末样品浓度越小越好,因为当浓度达到一定程度时,样品中的颗粒大大降低,颗粒数量过少会产生较大的取样和测量随机误差。此时,样品没有代表性.

4.测量时,还应控制固体表面浓度的下限范围zeta在一般测试中,电位分析仪的样品遮光度一般为10%-15%为宜.喷雾激光粒度仪采用本规程,其原理是散射理论,采用湿法操作;固体表面zeta操作前请仔细阅读电位分析仪的操作手册.

zeta需要考虑电位分析仪的大颗粒

1.小浓度,即使对于大颗粒,知道小浓度仍然是有效散射光强的保证,虽然我们必须考虑"Number fluctuation"( - 波动: 颗粒浓度过低导致光路中颗粒数随时间波动较大)的附加效应.

2.低浓度(例如0).001 g/l (10-4%)测量一个大颗粒(如5000)nm)样品产生的散射光大于测量所需的散射光.但散射体积中粒子数过小(小于10),散射体积中粒子数随时间波动严重.这些波动与所用计算方法中假设的类型不一致,通常被误解为样品中的大颗粒.这种波动必须避免,这决定了浓度和粒子数的下限.<0} 光路中应至少有500颗粒子,但建议少量1000颗粒子.

3.大浓度和大颗粒样品浓度的上限取决于多重散射的趋势.对多重散射不是很敏感,但随着浓度的增加,多重散射效应越来越占主导地位。当达到一定浓度时,会影响测量结果.当然,如此高的浓度不应用于测量,上表也不同zeta粗略估计电位分析仪的粒径粒子浓度.通用规则是,在多重散射和粒子相互作用影响结果之前,以可能的高浓度进行测量 .假设样品中的灰尘污染对高浓度和低浓度相同,因此zeta电位分析仪样品浓度增加,从样品中获得的散射光强度比灰尘散射光强增加.

4于稀释样品(分散剂和溶剂)的所有液体应在使用前过滤,以避免污染样品.zeta过滤器的粒径应由样品的估计粒径决定.如果样品是10nm,那么50nm灰尘将是分散剂中的重要污染物.水相分散剂可为0.2?m孔径膜过滤,非极性分散剂可被10或20过滤nm孔径膜过滤.过滤膜可以通过吸附和物理过滤消耗样品.只有当溶液中有聚集物等大粒径粒子时,它们不在乎成分,或可能导致结果变化,才能过滤样品.

5.超声波可用于去除气泡或破坏聚集物 - ,但必须谨慎使用,以避免损坏样品中的原始颗粒.超声的强度和施加时间取决于样品.矿物质,如二氧化钛,是超声探头分散的理想例子,但碳黑等矿物质的粒径可能取决于应用的功率和超声处理时间.

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