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zeta需要考虑电位分析仪的大颗粒,Zeta电位分析仪的测量方法是什么?

作者:优化一组时间:2022-02-04 07:00:04152 次浏览

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zeta电位分析仪实验的过程中样品粒径的具体情况,显微计数法不溶性微粒仪,显微智能图像粒度仪,快速水分仪等产品;Zeta电位分析仪的制备样品的小粒子需要考虑的事项,今天小编就为大家介绍一下"Zeta电位分析仪"的相关内容,希望可以帮到大家....

zeta电位分析仪实验的过程中样品粒径的具体情况,显微计数法不溶性微粒仪,显微智能图像粒度仪,快速水分仪等产品;Zeta电位分析仪的制备样品的小粒子需要考虑的事项,今天小编就为大家介绍一下"Zeta电位分析仪"的相关内容,希望可以帮到大家.

zeta需要考虑电位分析仪的大颗粒

1.小浓度,即使对于大颗粒,知道小浓度仍然是有效散射光强的保证,虽然我们必须考虑"Number fluctuation"( - 波动: 颗粒浓度过低导致光路中颗粒数随时间波动较大)的附加效应.

2.低浓度(例如0).001 g/l (10-4%)测量一个大颗粒(如5000)nm)样品产生的散射光大于测量所需的散射光.但散射体积中粒子数过小(小于10),散射体积中粒子数随时间波动严重.这些波动与所用计算方法中假设的类型不一致,通常被误解为样品中的大颗粒.这种波动必须避免,这决定了浓度和粒子数的下限.<0} 光路中应至少有500颗粒子,但建议少量1000颗粒子.

3.大浓度和大颗粒样品浓度的上限取决于多重散射的趋势.对多重散射不是很敏感,但随着浓度的增加,多重散射效应越来越占主导地位。当达到一定浓度时,会影响测量结果.当然,如此高的浓度不应用于测量,上表也不同zeta粗略估计电位分析仪的粒径粒子浓度.通用规则是,在多重散射和粒子相互作用影响结果之前,以可能的高浓度进行测量 .假设样品中的灰尘污染对高浓度和低浓度相同,因此zeta电位分析仪样品浓度增加,从样品中获得的散射光强度比灰尘散射光强增加.

4于稀释样品(分散剂和溶剂)的所有液体应在使用前过滤,以避免污染样品.zeta过滤器的粒径应由样品的估计粒径决定.如果样品是10nm,那么50nm灰尘将是分散剂中的重要污染物.水相分散剂可为0.2?m孔径膜过滤,非极性分散剂可被10或20过滤nm孔径膜过滤.过滤膜可以通过吸附和物理过滤消耗样品.只有当溶液中有聚集物等大粒径粒子时,它们不在乎成分,或可能导致结果变化,才能过滤样品.

5.超声波可用于去除气泡或破坏聚集物 - ,但必须谨慎使用,以避免损坏样品中的原始颗粒.超声的强度和施加时间取决于样品.矿物质,如二氧化钛,是超声探头分散的理想例子,但碳黑等矿物质的粒径可能取决于应用的功率和超声处理时间.

Zeta电位分析仪的测量方法是什么?

1.电泳法.当电场应用于电解质时,悬浮在电解质中的带电粒子被吸引到相反电荷的电极上,作用于粒子的粘性力倾向于对抗这种运动.当这两种对抗达到平衡时,粒子以恒定的速度移动,我们通常称之为电泳迁移率.

电渗法-单位场强下的液体移动速度称为电渗速度.液体的电渗速度与固液相间ξ电势成简单的正比关系,所以可以利用电渗来测量ξ但该方法仅限于能形成毛细管或多孔介质的材料.

2.流动电位法.流动电位是指当电解质溶液在带电荷的绝缘表面流动时,表面的双层自由带电荷颗粒将沿溶液流动方向移动。这些带电荷颗粒的运动导致下游电荷积累,上下游之间的电位差是流动电位.

3.超声电声法.在胶体溶液两侧施加电压,带点粒子运动会产生声波,测量声波,计算粒子的动态迁移率,然后计算Zeta电位

颗粒过滤系统可能受益于较低的Zeta由于聚集颗粒更容易去除电位水平.其他胶体系统大多需要更高的水平Zeta比如电位超过 //- 20毫伏,大大提高了壳体的使用寿命.当颗粒与涂层表面有相反的极性时,涂层往往更有效.Zeta电位通常不能直接测量.例如,伏特计探头不能靠在粒子表面来测量其表面电位.相反,Zeta电位是通过电泳测量计算的。电泳测量是在外加电场下测量粒子速度,即通过粒子移动和测量粒子迁移率(见www.yh-tek..com/mas).因此,计算出来Zeta电位取决于粒子迁移率和Zeta电位的关系.另一种测量大颗粒或表面电位的方法是将液体移动到静态颗粒、纤维或表面,然后测量产生的流动电位.

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