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固体表面zeta电位分析仪怎么判断状态是否正常,zeta电位分析仪的大颗粒需要考虑的事项

作者:优化一组时间:2022-03-03 07:00:35134 次浏览

信息摘要:

zeta电位分析仪NanoPlus是麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司一款新型的、多用途分析仪,是采用光子相关光谱法、电泳光散射以及FST技术来分析的麦克默瑞提克纳米粒度仪和zeta电位一体机,并可测定固体以及高浓度悬浮液的zeta电位,符合ISO标准....

zeta电位分析仪NanoPlus是麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司一款新型的、多用途分析仪,是采用光子相关光谱法、电泳光散射以及FST技术来分析的麦克默瑞提克纳米粒度仪和zeta电位一体机,并可测定固体以及高浓度悬浮液的zeta电位,符合ISO标准.

固体表面zeta电位分析仪怎么判断状态是否正常

1、分析软件对图像进行处理分析,具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点.可以观察颗粒形貌,也可得到粒度分布等分析结果.

2、蒸馏水作分散介质,不要加表面活性剂,配制不同浓度的金刚砂试样溶液3份,超声搅拌1min,然后进行粒度测定.粉体试样浓度较小时,所测得的粒径较小、粒度分布范围也较窄(由其粒度分布曲线可看出).

3、固体表面zeta电位分析仪,当粉体试样浓度较大时,因复散射及颗粒容易团聚,所测得的粒径偏大、粒度分布范围较宽(由其粒度分布曲线可看出),测试结果误差较大.但以上结果并不能说明粉体试样浓度越小越好,因为浓度小到一定程度时,样品中的颗粒已经大大减少,太少的颗粒数会产生较大的取样及测量随机误差,这时的样品已无代表性.

4、测量时也应该控制浓度的下限范围,固体表面zeta电位分析仪,在一般测试情况下,样品遮光度一般仪器10%-15%为宜.本规程使用于喷雾激光粒度仪,其原理为散射理论,用湿法操作;固体表面zeta电位分析仪,操作前请仔细阅读操作手册.

zeta电位分析仪的大颗粒需要考虑的事项

1、小浓度,即使对大颗粒,知道小浓度仍然是得到有效散射光强的保障,虽然我们还必须考虑"Number fluctuation"(数量 — 波动: 粒子浓度太低导致在光路中的粒子数量随时间较大波动)的附加效应.

2、如果在低浓度(比如说0.001 g/l (10-4%))下测量一个大颗粒(比如说500nm)样品,生成的散射光大于进行测量的所需量.但是,散射体积中粒子数太小(小于10),在散射体积中会发生严重的粒子数量随时间波动.这些波动与所用计算方法中假设的类型不符,通常会被错误诠释为样品中的大颗粒.必须避免此类波动,这决定了所要求浓度的下限和粒子数的下限.<0} 光路中至少应存在500个粒子,但推荐小量为1000个粒子.

3、大浓度,较大颗粒的样品浓度上限,由其引起多重散射的趋势决定.对多重散射不是十分敏感,但随着浓度增加,多重散射效应越来越占优势,在达到某一浓度时,生成过多的多重散射,会影响测量结果.当然,如此高的浓度不应用于测量,上表中给出了不同zeta电位分析仪的粒径粒子大浓度的粗略估算.通用规则是,在多重散射和粒子相互作用影响结果之前,以可能的高浓度进行测量 .可以假定样品中的灰尘污染对高浓度和低浓度是相同的,因此zeta电位分析仪的样品浓度增加,从样品得到的散射光强相对灰尘散射光强有所增加.

4、过滤用于稀释样品(分散剂和溶剂)的所有液体,应于使用前过滤,避免污染样品.zeta电位分析仪实验过程过滤器的粒径应由样品的估算粒径决定.如果样品是10nm,那么50nm灰尘将是分散剂中的重要污染物.水相分散剂可被0.2?m孔径膜过滤,而非极性分散剂可被10或20nm孔径膜过滤.过滤膜能通过吸附以及物理过滤消耗样品.只有在溶液中有较大粒径粒子如聚集物时,且它们不是所关心的成分,或可能引起结果改变,才过滤样品.

5、运用超声波可使用超声处理除去气泡或破坏聚集物 — 但是,必须谨慎应用,以便避免损坏样品中的原有粒子.使用超声的强度和施加时间方面,依赖于样品.矿物质如二氧化钛,是通过超声探头进行分散的一个理想的例子,但是某些矿物质,如炭黑,的粒径,可能依赖于所应用的功率和超声处理时间.

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