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zeta电位分析仪的大颗粒需要考虑的事项,Zeta电位分析仪测量方法有哪些

作者:优化一组时间:2022-04-12 07:00:56137 次浏览

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zeta电位分析仪实验的过程中样品粒径的具体情况,显微计数法不溶性微粒仪,显微智能图像粒度仪,快速水分仪等产品;Zeta电位分析仪的制备样品的小粒子需要考虑的事项,今天小编就为大家介绍一下"Zeta电位分析仪"的相关内容,希望可以帮到大家....

zeta电位分析仪实验的过程中样品粒径的具体情况,显微计数法不溶性微粒仪,显微智能图像粒度仪,快速水分仪等产品;Zeta电位分析仪的制备样品的小粒子需要考虑的事项,今天小编就为大家介绍一下"Zeta电位分析仪"的相关内容,希望可以帮到大家.

zeta电位分析仪的大颗粒需要考虑的事项

1、小浓度,即使对大颗粒,知道小浓度仍然是得到有效散射光强的保障,虽然我们还必须考虑"Number fluctuation"(数量 — 波动: 粒子浓度太低导致在光路中的粒子数量随时间较大波动)的附加效应.

2、如果在低浓度(比如说0.001 g/l (10-4%))下测量一个大颗粒(比如说500nm)样品,生成的散射光大于进行测量的所需量.但是,散射体积中粒子数太小(小于10),在散射体积中会发生严重的粒子数量随时间波动.这些波动与所用计算方法中假设的类型不符,通常会被错误诠释为样品中的大颗粒.必须避免此类波动,这决定了所要求浓度的下限和粒子数的下限.<0} 光路中至少应存在500个粒子,但推荐小量为1000个粒子.

3、大浓度,较大颗粒的样品浓度上限,由其引起多重散射的趋势决定.对多重散射不是十分敏感,但随着浓度增加,多重散射效应越来越占优势,在达到某一浓度时,生成过多的多重散射,会影响测量结果.当然,如此高的浓度不应用于测量,上表中给出了不同zeta电位分析仪的粒径粒子大浓度的粗略估算.通用规则是,在多重散射和粒子相互作用影响结果之前,以可能的高浓度进行测量 .可以假定样品中的灰尘污染对高浓度和低浓度是相同的,因此zeta电位分析仪的样品浓度增加,从样品得到的散射光强相对灰尘散射光强有所增加.

4、过滤用于稀释样品(分散剂和溶剂)的所有液体,应于使用前过滤,避免污染样品.zeta电位分析仪实验过程过滤器的粒径应由样品的估算粒径决定.如果样品是10nm,那么50nm灰尘将是分散剂中的重要污染物.水相分散剂可被0.2?m孔径膜过滤,而非极性分散剂可被10或20nm孔径膜过滤.过滤膜能通过吸附以及物理过滤消耗样品.只有在溶液中有较大粒径粒子如聚集物时,且它们不是所关心的成分,或可能引起结果改变,才过滤样品.

5、运用超声波可使用超声处理除去气泡或破坏聚集物 — 但是,必须谨慎应用,以便避免损坏样品中的原有粒子.使用超声的强度和施加时间方面,依赖于样品.矿物质如二氧化钛,是通过超声探头进行分散的一个理想的例子,但是某些矿物质,如炭黑,的粒径,可能依赖于所应用的功率和超声处理时间.

Zeta电位分析仪测量方法有哪些

1.电泳法.当电场施加于电解质时,悬浮在电解质中的带电粒子被吸引向相反电荷的电极,作用于粒子的粘性力倾向于对抗这种运动.当这两种对抗力达到平衡时,粒子以恒定的速度运动,我们一般称这个速度通为电泳迁移率.

电渗法-单位场强下的液体移动速度称为电渗速度.液体的电渗速度与固液两相间的ξ电势成简单的正比关系,所以可以利用电渗来测量ξ电势,但此法只限于能形成毛细管或多孔介质的材料.

2.流动电位法.流动电势是指当电解质溶液在一个带电荷的绝缘表面流动时,表面的双电层的自由带电荷粒子将沿着溶液流动方向运动,这些带电荷粒子的运动导致下游积累电荷,在上下游之间产生电位差就是流动电势.

3.超声电声法.在胶体溶液两侧施以电压,带点粒子运动会产生声波,测量所产生的声波,就可以计算颗粒的动态迁移率,后通过计算得到Zeta电位

颗粒过滤系统可能受益于较低的Zeta电位水平,因为聚集颗粒更容易去除.大多数其他胶体系统需要较高的Zeta电位,例如超过+/- 20毫伏,以大限度地提高壳体寿命.当颗粒和涂层表面具有相反的极性时,涂层往往更有效.Zeta电位通常不能直接测量.例如,不能将伏特计探头靠在粒子表面上以测量其表面电位.相反,Zeta电位是通过电泳测量来计算的,电泳测量是在外加电场下测量粒子速度,也就是通过粒子移动并测量其粒子迁移率(见www.yh-tek..com/mas).因此,计算出的Zeta电位取决于这些计算中使用的理论,即粒子迁移率与Zeta电位的关系.另一种测量大颗粒或表面电位的方法是将液体移到静止的颗粒、纤维或表面上,然后测量产生的流动电位.

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