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线扫描膜厚仪【离线型】

线扫描膜厚仪【离线型】

产品信息 特点 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量(已取得专利) 实现高速测量(500万点...

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产品介绍
  • 产品信息
  • 规格样式
  • 测量示例

    产品信息

    特点

    全面高速、高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

    硬件软件均为创新设计

    作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

    实现高精度测量(已取得专利)

    实现高速测量(500万点以上/分)

    式样

    测量例

    250mm宽的薄膜案例



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