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线扫描膜厚仪【离线型】

产品信息 特点 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量(已取得专利) 实现高速测量(500万点...

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产品介绍

产品信息

特点

·全面·高速·高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

·硬件·软件均为创新设计

·作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

·实现高精度测量(已取得专利)

·实现高速测量(500万点以上/分)

式样

测量例

250mm宽的薄膜案例



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