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高速相位差测量装置 RE-200

● 光轴的高精度管理! 3σ≦0.02°● 低相位差(Re.)测量...

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0512-62589919
产品介绍
  • 产品信息
  • 原 理
  • 规 格
  • 测量示例

产品信息

特    点

● 可测量0nm~的低(残留)相位差
● 在光轴检出同时,高速测量相位差 (Re.)
  (世界领先的0.1秒以下的高速处理)
● 无驱动部,实现高再现性
● 需设置项目少,测量简单
 测量波长除550nm以外,还有其他多种波长可选
● Rth测量、全方位角测量
  (需要自动倾斜平台,选配件)
 通过与拉伸试验机结合,可同时评估膜的偏光特性和光弹性
  此系统为定制

测量项目

 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
● 主轴方位角(θ[deg.])
● 椭圆率(ε)· 方位角(γ)
 三次元折射率(NxNyNz)

用    途

 相位差膜、偏光膜、视野角补偿膜、各种功能性膜
● 树脂、玻璃等透明带有低相位差的样品(残留应力)

原    理

什么是RE-200

RE-200是由光子晶体(偏光晶体)和CCD相机构成的偏光计测模块,与透过偏光光学系组合,可高速且高精度测得相位差(延迟)及主轴方位角。CCD相机一次性即可获得偏光强度图案,无偏光子旋转机构,系统整体小型化简洁设计,即使长时间使用亦可维持稳定性能。

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傅立叶变换算出椭圆率ε、方位角γ。

 

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规    格

式样

系列型号RE series
样品尺寸

最小10×10mm ~ 最大100×100mm

测量波长550nm (标准式样)※1
相位差测量范围约0nm ~ 约1μm
轴检出重复精度0.05°(at 3σ) ※2
检出器偏光计测模块
测量光斑2.2mm×2.2mm
光源100W 卤素灯 或者 LED光源
本体 · 重量300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、约20kg


选配件

可测量Rth、全方位角 ※治具本体(旋转:180°, 倾斜:±50°)
自动旋转倾斜治具

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测量示例

视野角改善膜A

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视野角改善膜B

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