- 产品信息
- 原 理
- 规 格
- 测量示例
产品信息
特 点
● 可测量0nm~的低（残留）相位差
● 在光轴检出同时，高速测量相位差 (Re.)
（世界领先的0.1秒以下的高速处理）
● 无驱动部，实现高再现性
● 需设置项目少，测量简单
● 测量波长除550nm以外，还有其他多种波长可选
● Rth测量、全方位角测量
（需要自动倾斜平台，选配件）
● 通过与拉伸试验机结合，可同时评估膜的偏光特性和光弹性
（此系统为定制）
测量项目
● 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
● 主轴方位角（θ[deg.]）
● 椭圆率（ε）· 方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
● 相位差膜、偏光膜、视野角补偿膜、各种功能性膜
● 树脂、玻璃等透明带有低相位差的样品（残留应力）
原 理
什么是RE-200
RE-200是由光子晶体（偏光晶体）和CCD相机构成的偏光计测模块，与透过偏光光学系组合，可高速且高精度测得相位差（延迟）及主轴方位角。CCD相机一次性即可获得偏光强度图案，无偏光子旋转机构，系统整体小型化简洁设计，即使长时间使用亦可维持稳定性能。
傅立叶变换算出椭圆率ε、方位角γ。
规 格
式样
| 系列型号 | RE series |
| 样品尺寸 | 最小10×10mm ～ 最大100×100mm |
| 测量波长 | 550nm （标准式样）※1 |
| 相位差测量范围 | 约0nm ～ 约1μm |
| 轴检出重复精度 | 0.05°（at 3σ） ※2 |
| 检出器 | 偏光计测模块 |
| 测量光斑 | 2.2mm×2.2mm |
| 光源 | 100W 卤素灯 或者 LED光源 |
| 本体 · 重量 | 300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、约20kg |
选配件
可测量Rth、全方位角 ※治具本体（旋转：180°， 倾斜：±50°）
自动旋转倾斜治具
测量示例
视野角改善膜A
视野角改善膜B
