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相位差测量装置 RETS-100nx

● RETS-100nx是一款适用于各种薄膜的相位差(延迟)测量装置,如OLED偏光片、多层相位差膜、IPS液晶相位差膜偏光片等。 ● 可以高速·高精度测得超高(Re.60000nm)相位差。 ● “不剥离、非破坏”状态下,测量多层薄膜的每层相位差和轴角。 ● 此外,软件操作简单、使用方便且测量精度高。...

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0512-62589919
产品介绍
  • 产品信息
  • 规 格
  • 光学系统

产品信息

特    长

采用大塚电子自社的多通道瞬间光谱仪实现高精度测量

■ 高精度

 测量多波长实现高精度

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 <高精度的原因>
          · 使用大塚电子自社的高性能瞬间多通道光谱仪。
          · 获得数据量很多的透过率信息,实现高精度测量。
            (获得约个500波长的透过率信息、是其他公司同类产品的约50倍)


■ 宽测量范围(相位差:0 ~ 60000nm)

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■ 可测量相位差的波长分散形状

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超高相位差测量 -可高速·高精度测量超双折射薄膜-

■ 高相位差
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多层测量 -不剥离、非破坏测量多层薄膜的每层相位差及轴角-

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轴角度补正功能 -可补正样品设置的偏移,轻松实现轴角测量的高再现性-

■ 样品重复取放10次,对比有·无角度补正的数据
        【 样品:相位差膜R85 】

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便捷的软件 -极大缩短测量时间和处理时间。操作性大幅提升。-

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规    格

式样
 项目 相位差测量装置 RETS-100nx
测量项目(薄膜、光学材料)相位差(波长色散)、慢轴、Rth *1、3次元折射率*1
测量项目(偏光片)吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透射率等
测量项目(液晶Cell)Cell Gap、预倾角*1、扭曲角、配向角等
相位差测量范围0 ~ 60,000nm
相位差重复性3σ ≤ 0.08nm(水晶波长板 约600nm)
Cell Gap 测量范围0 ~ 600μm(Δn = 0.1 的情况)
Cell Gap 重复性3σ≤0.005μm(Cell Gap约3μm、Δn=0.1的情况)
轴检出重复性3σ≤0.08°(水晶波长板 约600nm)
测量波长范围400 ~ 800nm(可选择其他波长)
检出器瞬间多通道光谱仪
测量光斑φ2mm(标准式样)
光源100W 卤素灯
数据处理部PC、显示器
平台尺寸:标准100mm × 100mm(固定平台)
 选项 · 超高相位差测量
 · 多层测量
 · 轴角度补正功能
 · 自动XY平台
 · 自动倾斜旋转平台

*1 需要自动倾斜旋转平台(选配件)

光学系

特    点
固定平台  【 Option:轴角度补正功能 】

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自动倾斜旋转平台  【 Option 】

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自动 XY 平台  【 Option 】

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