导航
导航
公司首页
公司介绍
公司简介
业务内容
企业理念
关联企业
产品信息
分析仪器
测量仪器
讲习会
资料下载
产品目录
技术资料
论文
SDS
技术情报
新闻咨询
公司新闻
行业新闻
服务与支持
登录
公司介绍
公司简介
业务内容
企业理念
总经理寄语
关联企业
产品信息
分析仪器
测量仪器
讲习会
资料下载
产品目录
技术资料
论文
SDS
技术情报
应用案例
在线学习
新闻资讯
公司新闻
行业新闻
服务与支持
登录
Photo
Article
Download
Community
NEWS INFORMATION
新闻资讯
首页
/
新闻资讯
公司新闻
行业新闻
1/16
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
VR pancake模组的偏光片贴合角、相位差测量、LCoS液晶盒盒厚检测Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估、和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发
查看详情
12/9
DLS测量手法及技巧介绍(2024/12/18)
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等测量设备或对此有兴趣的人。
查看详情
10/29
平板状·薄膜状样品的ZETA 电位测量与应用的介绍(2024/11/27)
大塚电子的 Zeta 电位测量系统“ELSZ 系列”不仅可以测量溶液中胶体粒子的 Zeta 电位,也可以测量平板状、薄膜状样品的 Zeta 电位。通过这样的测量可以评价平板状样品的表面改质状态以及液体中粒子的吸着特性。本次研讨会将介绍其应用。
查看详情
16
2025-01
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
VR pancake模组的偏光片贴合角、相位差测量、LCoS液晶盒盒厚检测Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估、和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发
09
2024-12
DLS测量手法及技巧介绍(2024/12/18)
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等测量设备或对此有兴趣的人。
29
2024-10
平板状·薄膜状样品的ZETA 电位测量与应用的介绍(2024/11/27)
大塚电子的 Zeta 电位测量系统“ELSZ 系列”不仅可以测量溶液中胶体粒子的 Zeta 电位,也可以测量平板状、薄膜状样品的 Zeta 电位。通过这样的测量可以评价平板状样品的表面改质状态以及液体中粒子的吸着特性。本次研讨会将介绍其应用。
12
2024-09
纳米粒度仪的基本操作&故障排除-苏州线上讲习会(2024-10-23)
无法测试出预想的结果,测试数据波动这么大?是设置环境的不当?运用方法不对? 还是测试条件设置有误?如果您也有同样的困惑,请记得务必参加我司的网络学习会。
27
2024-05
晶圆和研磨液静电相互作用的评价方法和半导体制程技术介绍(2024-07-24)
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括:纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
28
2024-04
偏光片相位差·吸收轴测试原理及应用案例-苏州线上讲习会(2024-5-22)
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括:纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
11
2024-04
纳米粒度和ZETA电位设备在生物医药行业的应用(2024-04-24 )
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括:纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
30
2024-01
膜厚度测量(反射分光)的原理和应用介绍-2024-2-28
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括:纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
30
2023-11
RETS测试原理&应用-苏州线上讲习会(2023-12-6)
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括:纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
14
2023-11
平板ZETA电位测量-苏州线上讲习会(2023-11-22)
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括:纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
15
2023-08
9月 WEBINAR(网络研讨会)-大塚电子网络研讨会-膜厚测量应用
15
2023-08
9月 Webinar(网络研讨会)-大塚电子网络研讨会-粒径应用篇
大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括:纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
07
2022-09
Inline分光计测仪器 -为提升品质做出贡献
平板显示器、包装用薄膜、光学薄膜等领域出现了各种各样的产品,特别是在这些产品中,光学特性成为最重要的特性之一.推荐大塚电子-Inline分光计测仪器。...
17
2022-08
大塚电子(苏州)有限公司将于2022年9月7-9日参与CIOE中国光博会
大塚电子(苏州)有限公司将参加2022年CIOE中国光博会,展出位置:13号馆13E21,将展出的产品有:OPTM 显微分光膜厚仪、ELSZ 粒径、界达电位测试仪、MCPD,欢迎您前来免费参观。...
17
2021-09
卷对卷(Roll to Roll)高速在线膜厚监控
在各种高分子领域中,卷对卷的膜层涂布是其中一段生产过程,在监控膜厚时为了保持商品的完整性,无法以接触式方法量测。...
24
2021-08
大塚电子即将亮相深圳国际纳米材料及技术展览会
展期:2021年9月9~11日 展馆:深圳国际会展中心(新馆) 地址:深圳市宝安区展城路1号 展位号:8号馆8A01C(3号门) 纳米材料行业解决方案 纳米材料包括:纳米碳纳米材料(石墨烯、富...
01
2021-07
Otsuka 大塚电子携最新实验室测量设备亮相ICIF China 2020中国国际化工展览会
9月16日到9月18日大塚电子(苏州)有限公司携其最新粒度仪设备nanoSAQLA、ZETA电位核心技术产品ELSZ-200ZS及量子效率测试系统亮相ICIF China 2020中国国际化工展览会作为粒度仪行业的知名领先...
01
2021-07
大塚电子与您相约第22届高交会!
大塚电子(苏州)有限公司 诚邀您莅临展位参观、洽谈 展位号:3号馆-3D11 2020.11.11-15 深圳会展中心(福田)...
01
2021-07
大塚电子参加第十七届上海国际胶粘带保护膜及功能膜展览会
大塚电子参加第十七届上海国际胶粘带保护膜及功能膜展览会...
01
2021-07
【大塚电子新产品】线扫描膜厚仪实现薄膜的线扫描膜厚测量
近年来工作方式改革和新型冠状病毒感染症(COVID-19)使得外出受到限制,居家办公、电话办公、Web会议普及等,工作方式发生了很大的变化。笔记本电脑、平板电脑为代表的显示器件成...
<
1
2
>