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对于半导体前工序的多种需求 大塚膜厚仪的特点和作用
2025-03-27 13:37:02

信息摘要:

● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成。 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪,测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率 的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。

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