大塚电子（苏州）有限公司

展位号：2B29
作为世界500强企业之一的大冢集团，其旗下日本大塚电子集团的子公司大塚电子（苏州）有限公司以“多样性”、“创新性”和“全球化”作为基本方针，并融合了自公司成立以来积累的核心技术，为用于光学特性测试的测量仪器、分析仪器提供从销售到售后的全面服务支持，包括偏光片测试仪、位相差测试仪、液晶Cellgap测试仪、ColorFilter色度机、膜厚测试仪、透过率测试仪、反射率测试仪、纳米粒度仪等，可以满足纳米技术、高分子化学、新材料、食品、半导体和医药等诸多领域从研发到质量管理各方面的需求，拥有精度高、测试快、操作简便、市场占有率高、客户群体广的特点及优势。

01、显微分光膜厚仪

产品介绍：

非接触、非破坏式，量测头可自由集成在客户系统内；

初学者也能轻松解析建模的初学者解析模式；

 高精度、高再现性量测紫外到近红外波段内的绝对反射率，可分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率、k：消光系数）；

单点对焦加量测在1秒内完成；

显微分光下广范围的光学系统（紫外 ~ 近红外）；

独立测试头对应各种inline定制化需求；

最小对应spot约3μm；

独家专利可针对超薄膜解析nk。

 02、相位差测量装置

产品介绍：

测量项目（薄膜、光学材料）相位差（波长分散）、慢轴、RTH*1、3次元折射率*1等；

测量项目（偏光片）吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等；

测量项目（液晶cell）cell gap、预倾角*1 、扭曲角、配向角等；

位相差测量范围0～60,000nm。

IFTE 2025
IFTE 2025国际(上海)薄膜与胶带技术及应用创新展,致力于向高附加值应用行业展示薄膜与胶带及涂布模切领域的创新解决方案,并促进了上下游企业高效链接,挖掘潜在商机,推动产业可持续发展。为薄膜与胶带企业打造精准高效的供需对接与技术交流平台。本届展会将于2025年8月7-9日在上海新国际博览中心举办,同期举办DIC EXPO国际(上海)显示技术及应用创新展。展会预计将吸引300余家参展商及品牌集中展示前沿技术产品及应用解决方案,聚焦功能膜材、胶粘新材、模切涂布等领域。