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膜厚度测量(反射分光)的原理和应用介绍-2024-2-28
2024-07-26 01:27:42

信息摘要:

大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括:纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...

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