大塚电子（苏州）有限公司将参加2024年CIOE中国光博会，展出位置：3号馆3D13，将展出的产品有：MINUK、OPTM、ELSZ  neo、Smart膜厚計，真空腔体中在线膜厚检测设备，欢迎您前来免费参观。

产品介绍:

【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的最高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。

产品介绍:

测量项目：[膜厚、折射率n、消光系数k]. 测量原理：[分光干涉法]. 测量对象：[光刻胶、SiO2、Si3N4等]. 测量范围：[1nm~92μm]

Smart膜厚計

高精度可携带膜厚计

“想测量的‘当场’不能马上测量”

“因人而异的测量结果”

“测量精度差”

测量膜厚的时候，没有这样的经验吗？智能膜厚计具有以下特征，可以解决大家的困难。

可以带去现场的不利条件类型

因为很简单所以谁都能用

即使是不利类型也能进行高精度的测定

有形状的样品也可以用非破坏来测量

真空腔体中在线膜厚检测设备

在真空环境下也可以在多点进行反射、透射光谱测定

通过使用各种法兰对应的耐真空纤维，可以在高真空下测量反射、透射光谱。另外，膜厚运算不易受到基膜的上下移动的影响，并且采用精度良好的薄膜测量大冢电子独自的算法，可以作为实时监视器使用。