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光波动场三次元显微镜MINUK的介绍
MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
展会名称 光波动场三次元显微镜MINUK的介绍
展会时间 2025/3/27 15:00~16:00
举办展馆 苏州线上讲习会

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