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对于半导体前工序的多种需求 大塚膜厚仪的特点和作用
● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。
展会名称 对于半导体前工序的多种需求 大塚膜厚仪的特点和作用
展会时间 2025/4/24 15:00~16:00
举办展馆 苏州线上讲习会

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