导航
导航
公司首页
公司介绍
公司简介
业务内容
企业理念
关联企业
产品信息
分析仪器
测量仪器
讲习会
资料下载
产品目录
技术资料
论文
SDS
技术情报
新闻咨询
公司新闻
行业新闻
服务与支持
登录
公司介绍
公司简介
业务内容
企业理念
总经理寄语
关联企业
产品信息
分析仪器
测量仪器
讲习会
资料下载
产品目录
技术资料
论文
SDS
技术情报
应用案例
在线学习
新闻资讯
公司新闻
行业新闻
服务与支持
登录
Photo
Article
Download
Community
PRODUCT
资料下载
首页
/
资料下载
产品目录
技术资料
论文
SDS
【FE-0015】使用界面系数测量粗糙基板上的薄膜厚度
【FE-0014】使用多点相同分析法测量NK未知超薄膜
【FE-0012】使用薄膜厚度分布进行解析
【FE-0010】使用非相干层模型对封装的有机EL材料进行测量
【FE-0009】 使用超晶格模型测量干扰滤波器
【FE-0007】包含表面粗糙度的薄膜厚度值的测量
【FE-0005】 使用倾斜模型对ITO进行结构分析
【FE-0004】测量硬涂层的厚度
【FE-0003】彩色抗蚀剂(RGB)薄膜厚度测量
【FE-0002】SIO2 SIN的膜厚测量
<
1
2
>