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讲习会
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讲习会
晶圆和浆料静电相互作用的评估与半导体工艺技术简介
2025/2/26 15:00~16:00
丨
苏州线上讲习会
展会介绍
大塚电子(苏州)有限公司产品讲解:ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
2025/1/23 15:00~16:00
丨
苏州线上讲习会
展会介绍
VR pancake模组的偏光片贴合角、相位差测量、LCoS液晶盒盒厚检测Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估、和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发
DLS测量手法及技巧介绍
2024/12/18 15:00~16:00
丨
苏州线上讲习会
展会介绍
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等测量设备或对此有兴趣的人。
平板状·薄膜状样品的Zeta 电位测量与应用的介绍
2024-11-27 15:00~16:00
丨
线上讲习会
展会介绍
大塚电子的 Zeta 电位测量系统“ELSZ 系列”不仅可以测量溶液中胶体粒子的 Zeta 电位,也可以测量平板状、薄膜状样品的 Zeta 电位。通过这样的测量可以评价平板状样品的表面改质状态以及液体中粒子的吸着特性。本次研讨会将介绍其应用。
纳米粒度仪的基本操作&故障排除
2024-10-23 15:00~16:00
丨
线上讲习会
展会介绍
无法测试出预想的结果,测试数据波动这么大?是设置环境的不当?运用方法不对?
还是测试条件设置有误?如果您也有同样的困惑,请记得务必参加我司的网络学习会。
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
2024-9-25 15:00~16:00
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线上讲习会
展会介绍
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
显微分光膜厚仪的晶圆图案对位功能介绍
2024-08-28 15:00~16:00
丨
线上讲习会
展会介绍
大塚电子利用光技术,开发出各种分析测量装置,给客户提供尖端测量技术支持。
晶圆和研磨液静电相互作用的评价方法和半导体制程技术介绍
2024-07-24 15:00~16:00
丨
线上讲习会
展会介绍
大塚电子利用光技术,开发出各种分析测量装置,给客户提供尖端测量技术支持。
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