纳米粒度仪的基本操作&故障排除-苏州线上讲习会(2024-10-23)
无法测试出预想的结果,测试数据波动这么大?是设置环境的不当?运用方法不对? 还是测试条件设置有误?如果您也有同样的困惑,请记得务必参加我司的网络学习会。
ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS
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多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA(带自动取样器 AS50)
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彩色滤光片、彩色光刻胶测量装置 LCF SERIES
Load Port对应膜厚测量系统 GS-300
液晶层间隙量测设备 RETS series
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显微分光膜厚仪 OPTM series
液晶层间隙量测设备 RETS series
OPTM series 嵌入型
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高灵敏度光谱仪 HS-1000
总光谱光通量测量系统 HM/FM series
紫外分光辐射照度测量系统 New
紫外分光全光谱光通量测量系统
紫外分光配光测量系统
分光辐射照度测量系统
高速LED光学特性仪 LE series
高感度分光辐射亮度计 HS-1000
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高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000 New
无法测试出预想的结果,测试数据波动这么大?是设置环境的不当?运用方法不对? 还是测试条件设置有误?如果您也有同样的困惑,请记得务必参加我司的网络学习会。
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大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括:纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
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包括光学显微镜和电子显微镜等。光学显微镜可用于观察晶圆表面的形貌、缺陷等,如划痕、颗粒污染等,操作简单、成本较低,但分辨率相对有限。
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纳米粒度仪主要是用于测量颗粒的粒径及粒度分布等参数,通常不能直接用于分子量测试。
Zeta 电位(ζ- 电位)是指剪切面(shear plane)的电位,是表征胶体分散系稳定性的重要指标 。分散粒子表面带有电荷会吸引周围的反号离子,这些反号离子在两相界面呈扩散状态分布形成扩散双电层,根据 stern 双电层理论可将双电层分为两部分:stern 层和扩散层 。
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