纳米粒度仪分析仪器-薄膜测厚仪-偏光片检测-ZETA电位仪-大塚电子

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粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S

产品信息特点藉由最新型的高感度APD，提高感光度，缩短测量时间。搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性，相变温度。可测量0～90℃宽阔的温度范围。增加了大范围分子量测定...
zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo

产品信息特点多角度测量，分辨率更高粒子浓度测量微流变学测量凝胶网络结构分析新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位温度梯度功能可对应从稀薄到浓厚的...
ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS

特点使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性?相转移温度可测量0～90℃大范围内的温度追加了大范围的分子量测量及解析功能...
多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA（带自动取样器 AS50）

产品信息特点 nanoSAQLA 的特点 1个单元可轻松连续测量5个样品实现了在没有自动进样器的情况下难以实现的多个样品的连续测量，也可以通过改变每个样品的条件进行测量。对应瘦...
多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLA

产品信息特点只需一台，轻松实现5检体连续测量低浓度到高浓度都可对应高速测量，标准时间1分钟搭载了简单的测量功能 (1键测量) 内置非浸泡型的cell block，无分注夹杂物搭载温...
粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S

产品信息特点藉由最新型的高感度APD，提高感光度，缩短测量时间。搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性，相变温度。可测量0～90℃宽阔的温度范围。增加了大范围分子量测定...
zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo

产品信息特点多角度测量，分辨率更高粒子浓度测量微流变学测量凝胶网络结构分析新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位温度梯度功能可对应从稀薄到浓厚的...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS

产品信息特点使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性?相转移温度可测量0～90℃大范围内的温度追加了大范围的分子量测量及...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS

产品信息特点使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性?相转移温度可测量0～90℃大范围内的温度追加了大范围的分子量测量及...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS

产品信息特点使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性?相转移温度可测量0～90℃大范围内的温度追加了大范围的分子量测量及...
zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo

产品信息特点多角度测量，分辨率更高粒子浓度测量微流变学测量凝胶网络结构分析新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位温度梯度功能可对应从稀薄到浓厚的...
ZETA电位测量系统 ELSZ-2000Z

产品信息特点使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性?相转移温度可测量0～90℃大范围内的温度追加了大范围的分子量测量及...
zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo

产品信息特点多角度测量，分辨率更高粒子浓度测量微流变学测量凝胶网络结构分析新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位温度梯度功能可对应从稀薄到浓厚的...
zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo

产品信息特点多角度测量，分辨率更高粒子浓度测量微流变学测量凝胶网络结构分析新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位温度梯度功能可对应从稀薄到浓厚的...
ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS

产品信息特点使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性?相转移温度可测量0～90℃大范围内的温度追加了大范围的分子量测量及...

测量机器/ Measuring machine 查看更多+

显微分光膜厚仪 OPTM series

产品信息特点头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）区...
量子效率测量系统 QE-2000/2100

产品信息特点测量精度高可瞬间测量绝对量子效率（绝对量子收率）可去除再激励荧光发光采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系采用了低迷光多通道分光检出器，大大减少了...
膜厚量测仪 FE-300

产品信息特长薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析高性能的低价光学薄膜量测仪藉由绝对反射率光谱分析膜厚完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能无复杂设定，操作简单，短時...
膜厚量测仪 FE-300

产品信息特长薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析高性能的低价光学薄膜量测仪藉由绝对反射率光谱分析膜厚完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能无复杂设定，操作简单，短時...
膜厚量测仪 FE-300

产品信息特长薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析高性能的低价光学薄膜量测仪藉由绝对反射率光谱分析膜厚完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能无复杂设定，操作简单，短時...
液晶层间隙量测设备 RETS series

产品信息特点采用了偏光光学系和多通道分光检出器有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备测量项目...
相位差测量装置 RETS-100nx

● RETS-100nx是一款适用于各种薄膜的相位差（延迟）测量装置，如OLED偏光片、多层相位差膜、IPS液晶相位差膜偏光片等。 ● 可以高速·高精度测得超高（Re.60000nm）相位差。 ● “不剥离、非破坏”状态下，测量多层薄膜的每层相位差和轴角。 ● 此外，软件操作简单、使用方便且测量精度高。...
彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series

产品信息特点以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板...
嵌入式膜厚检测仪

产品信息特点采用分光干涉法搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利第4834847号）使用光学光纤，可灵活构筑测量系统可嵌入至各种制造设备。实时测量膜厚可对应远程操作、多点测量...
高速LED光学特性仪 LE series

产品信息特点与产线的控制信号同步通过光纤的自由的测试系统实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400）同以往的产品相比，测量?演算?评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型测量...
Load Port对应膜厚测量系统 GS-300

产品信息特点支持集成到 Φ300mm EFEM 单元的备用端口实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐支持半导体工艺的高吞吐量要求支持槽口对齐功能小尺寸规格高精度自动校准单元自动...
分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3

即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...
多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800

产品信息特长应用广泛的测量仪。以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。不同评价方法对应不同设备 ◎...
嵌入式膜厚检测仪

产品信息特点采用分光干涉法搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利第4834847号）使用光学光纤，可灵活构筑测量系统可嵌入至各种制造设备。实时测量膜厚可对应远程操作、多点测量...
相位差测量装置 RETS-100nx New

产品信息特点采用了偏光光学系和多通道分光检出器有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备测量项目...