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产品信息

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分析机器/ Analysis machine 查看更多+

  • 粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S
    粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S
    产品信息 特点 藉由最新型的高感度APD,提高感光度,缩短测量时间。 搭载自动温度梯度测量功能,可分析变性,相变温度。 可测量0~90℃宽阔的温度范围。 增加了大范围分子量测定...
  • zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    产品信息 特点 多角度测量,分辨率更高 粒子浓度测量 微流变学测量 凝胶网络结构分析 新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位 温度梯度功能 可对应从稀薄到浓厚的...
  • ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    特点 使用了最新型高感度APD,感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间,可分析出変性?相转移温度 可测量0~90℃大范围内的温度 追加了大范围的分子量测量及解析功能...
  • 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA(带自动取样器 AS50)
    多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA(带自动取样器 AS50)
    产品信息 特点 nanoSAQLA 的特点 1个单元可轻松连续测量5个样品 实现了 在没有自动进样器的情况下难以 实现的 多个样品的 连续测量, 也可以通过改变每个样品的条件进行测量。 对应瘦...
  • 多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLA
    多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLA
    产品信息 特点 只需一台,轻松实现5检体连续测量 低浓度到高浓度都可对应 高速测量,标准时间1分钟 搭载了简单的测量功能 (1键测量) 内置非浸泡型的cell block,无分注夹杂物 搭载温...
  • 粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S
    粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S
    产品信息 特点 藉由最新型的高感度APD,提高感光度,缩短测量时间。 搭载自动温度梯度测量功能,可分析变性,相变温度。 可测量0~90℃宽阔的温度范围。 增加了大范围分子量测定...
  • zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    产品信息 特点 多角度测量,分辨率更高 粒子浓度测量 微流变学测量 凝胶网络结构分析 新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位 温度梯度功能 可对应从稀薄到浓厚的...
  • ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD,感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间,可分析出変性?相转移温度 可测量0~90℃大范围内的温度 追加了大范围的分子量测量及...
  • ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD,感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间,可分析出変性?相转移温度 可测量0~90℃大范围内的温度 追加了大范围的分子量测量及...
  • ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD,感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间,可分析出変性?相转移温度 可测量0~90℃大范围内的温度 追加了大范围的分子量测量及...
  • zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    产品信息 特点 多角度测量,分辨率更高 粒子浓度测量 微流变学测量 凝胶网络结构分析 新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位 温度梯度功能 可对应从稀薄到浓厚的...
  • ZETA电位测量系统 ELSZ-2000Z
    ZETA电位测量系统 ELSZ-2000Z
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD,感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间,可分析出変性?相转移温度 可测量0~90℃大范围内的温度 追加了大范围的分子量测量及...
  • zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    产品信息 特点 多角度测量,分辨率更高 粒子浓度测量 微流变学测量 凝胶网络结构分析 新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位 温度梯度功能 可对应从稀薄到浓厚的...
  • zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    产品信息 特点 多角度测量,分辨率更高 粒子浓度测量 微流变学测量 凝胶网络结构分析 新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位 温度梯度功能 可对应从稀薄到浓厚的...
  • ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD,感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间,可分析出変性?相转移温度 可测量0~90℃大范围内的温度 追加了大范围的分子量测量及...

测量机器/ Measuring machine 查看更多+

  • 显微分光膜厚仪 OPTM series
    显微分光膜厚仪 OPTM series
    产品信息 特点 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数) 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外) 区...
  • 量子效率测量系统 QE-2000/2100
    量子效率测量系统 QE-2000/2100
    产品信息 特 点 测量精度高 可瞬间测量绝对量子效率(绝对量子收率) 可去除再激励荧光发光 采用了积分半球unit,实现了明亮的光学系 采用了低迷光多通道分光检出器,大大减少了...
  • 膜厚量测仪 FE-300
    膜厚量测仪 FE-300
    产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由绝对反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能 无复杂设定,操作简单,短時...
  • 膜厚量测仪 FE-300
    膜厚量测仪 FE-300
    产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由绝对反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能 无复杂设定,操作简单,短時...
  • 膜厚量测仪 FE-300
    膜厚量测仪 FE-300
    产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由绝对反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能 无复杂设定,操作简单,短時...
  • 液晶层间隙量测设备 RETS series
    液晶层间隙量测设备 RETS series
    产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置,从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设备 测量项目...
  • 相位差测量装置 RETS-100nx
    相位差测量装置 RETS-100nx
    ● RETS-100nx是一款适用于各种薄膜的相位差(延迟)测量装置,如OLED偏光片、多层相位差膜、IPS液晶相位差膜偏光片等。 ● 可以高速·高精度测得超高(Re.60000nm)相位差。 ● “不剥离、非破坏”状态下,测量多层薄膜的每层相位差和轴角。 ● 此外,软件操作简单、使用方便且测量精度高。...
  • 彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series
    彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series
    产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表,通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等,可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置 可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板...
  • 嵌入式膜厚检测仪
    嵌入式膜厚检测仪
    产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统(专利 第4834847号) 使用光学光纤,可灵活构筑测量系统 可嵌入至各种制造设备。 实时测量膜厚 可对应远程操作、多点测量...
  • 高速LED光学特性仪 LE series
    高速LED光学特性仪 LE series
    产品信息 特 点 与产线的控制信号同步 通过光纤的自由的测试系统 实现最短2ms~的光谱测量(LE-5400) 同以往的产品相比,测量?演算?评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型 测量...
  • Load Port对应膜厚测量系统 GS-300
    Load Port对应膜厚测量系统 GS-300
    产品信息 特点 支持集成到 Φ300mm EFEM 单元的备用端口 实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐 支持半导体工艺的高吞吐量要求 支持槽口对齐功能 小尺寸规格 高精度自动校准单元 自动...
  • 分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
    分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
    即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
  • 多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首,一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应不同设备 ◎...
  • 嵌入式膜厚检测仪
    嵌入式膜厚检测仪
    产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统(专利 第4834847号) 使用光学光纤,可灵活构筑测量系统 可嵌入至各种制造设备。 实时测量膜厚 可对应远程操作、多点测量...
  • 相位差测量装置 RETS-100nx New
    相位差测量装置 RETS-100nx New
    产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置,从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设备 测量项目...
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公司介绍
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大塚电子(苏州)有限公司

     公司简介 大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源・照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价・检查。 以高速・高精度・高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础, 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例, 为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源・照明 相关方面,对国家级研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。 在中国的苏州有设立售后服务点,为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。 我公司的母公司日本大塚电子集团,隶属于大冢集团, 一直以...

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