日本語   |   English

产品信息

分析机器/ Analysis machine 查看更多+

  • ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统·ELSZ-2000系列
    ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统·ELSZ-2000系列
    ●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径,并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围(0.6nm~10um),浓度范围(0.00001%~40%)。对电渗透流进行实测,可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现...
  • ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统·ELSZ-2000系列
    ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统·ELSZ-2000系列
    ●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径,并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围(0.6nm~10um),浓度范围(0.00001%~40%)。对电渗透流进行实测,可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现...
  • ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统·ELSZ-2000系列
    ZETA电位 · 粒径 · 分子量测系统·ELSZ-2000系列
    ●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径,并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围(0.6nm~10um),浓度范围(0.00001%~40%)。对电渗透流进行实测,可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现...
  • NANOSAQLA纳米粒度分析仪
    NANOSAQLA纳米粒度分析仪
    ● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法(DLS法)测量粒径(粒径0.6nm~10um)的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统,实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外,这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。...
  • 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA(带自动取样器 AS50)
    多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA(带自动取样器 AS50)
    产品信息 特点 nanoSAQLA 的特点 1个单元可轻松连续测量5个样品 实现了 在没有自动进样器的情况下难以 实现的 多个样品的 连续测量, 也可以通过改变每个样品的条件进行测量。 对应瘦...
  • ELSZneo多角度纳米粒度及ZETA电位分析仪
    ELSZneo多角度纳米粒度及ZETA电位分析仪
    【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的最高级机型,除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位(Zeta Potential,ζ-电位)和粒径测定之外,还能进行分子量测定的装置。作为新的功能,为了提高粒度分布的分离能力,采用了多角度测定。另外,也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池,通过新开发的对应高盐浓度的涂层,可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中,从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内,可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。...
  • ZETA电位测量系统 ELSZ-2000Z
    ZETA电位测量系统 ELSZ-2000Z
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD,感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间,可分析出変性?相转移温度 可测量0~90℃大范围内的温度 追加了大范围的分子量测量及...

测量机器/ Measuring machine 查看更多+

  • 显微分光膜厚仪 OPTM series
    显微分光膜厚仪 OPTM series
    ●非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ●OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪,测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试,并有独家专利可针对透明基板去除背面反射,从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外,软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。...
  • 高感度分光辐射亮度计 HS-1000
    高感度分光辐射亮度计 HS-1000
    特点: 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法(衍射光栅), 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量, 对应CIE推荐的宽波长范围(355 nm至835 nm) 独特的光学系统降低了...
  • 多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首,一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应不同设备 ◎...
  • 膜厚量测仪 FE-300
    膜厚量测仪 FE-300
    产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由绝对反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能 无复杂设定,操作简单,短時...
  • 嵌入式膜厚检测仪
    嵌入式膜厚检测仪
    产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统(专利 第4834847号) 使用光学光纤,可灵活构筑测量系统 可嵌入至各种制造设备。 实时测量膜厚 可对应远程操作、多点测量...
  • 嵌入式膜厚仪 FE-5000/5000S
    嵌入式膜厚仪 FE-5000/5000S
    产品信息 特点 可在紫外和可见(250至800nm)波长区域中测量椭圆参数 可分析纳米级多层薄膜的厚度 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱 通过可变反射角测量,可详细分析...
  • 超高速分光涉式膜厚仪
    超高速分光涉式膜厚仪
    以非接触方式测量晶圆等的研磨和抛光工艺,超高速、实时、高精度测量晶圆和树脂 产品详细信息 特点 非接触式,非破坏性厚度测量 反射光学系统(可从一侧接触测量) 高速(最高...
  • 非接触式光学膜厚仪 Emios
    非接触式光学膜厚仪 Emios
    产品信息 特长 非接触式测量不透明、粗糙,易变形的样品 反复性?再现性高 无标准曲线也可知道绝对厚度 测量径很小,不受斑点的影响 样品位置无需调整,放进去即可。 稳定性高,...
  • 线扫描膜厚仪【在线型】
    线扫描膜厚仪【在线型】
    产品信息 特点 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量(已获取专利) 实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...
  • 线扫描膜厚仪【离线型】
    线扫描膜厚仪【离线型】
    产品信息 特点 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量(已取得专利) 实现高速测量(500万点...
  • 分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
    分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
    即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
  • 全光束测量系统 HM/FM series
    全光束测量系统 HM/FM series
    产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器,可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸(积分球或积分半球)从250毫...
  • 紫外分光全光谱光通量测量系统
    紫外分光全光谱光通量测量系统
    产品信息 特征 具有高灵敏度检测器的宽测量范围 具有紫外线自吸收校正的高精度测量 配备温度控制单元,可从-110C进行温度控制 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 电源、温控单元、...
  • 紫外分光辐射照度测量系统  New
    紫外分光辐射照度测量系统 New
    产品信息 特征 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围 带软件的样品照明电源...
  • 量子效率测量系统 QE-2000/2100
    量子效率测量系统 QE-2000/2100
    产品信息 特 点 测量精度高 可瞬间测量绝对量子效率(绝对量子收率) 可去除再激励荧光发光 采用了积分半球unit,实现了明亮的光学系 采用了低迷光多通道分光检出器,大大减少了...
新闻资讯
公司介绍
公司介绍

大塚电子(苏州)有限公司

     公司简介 大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源・照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价・检查。 以高速・高精度・高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础, 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例, 为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源・照明 相关方面,对国家级研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。 在中国的苏州有设立售后服务点,为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。 我公司的母公司日本大塚电子集团,隶属于大冢集团, 一直以...

+more

CUSTOM

客户案例

客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例
客户案例

Copyright © 2021-2025 大塚电子有限公司 All rights reserved.  备案号:苏ICP备13028874号-1

0512-62589919