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  • 粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S
    粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S
    产品信息 特点 藉由最新型的高感度APD，提高感光度，缩短测量时间。 搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性，相变温度。 可测量0～90℃宽阔的温度范围。 增加了大范...
  • zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    产品信息 特点 多角度测量，分辨率更高 粒子浓度测量 微流变学测量 凝胶网络结构分析 新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位 温度梯度功能 可对应从...
  • ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    特点 使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性・相转移温度 可测量0～90℃大范围内的温度 追加了大范围的分子量测...
  • 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA（带自动取样器 AS50）
    多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA（带自动取样器 AS50）
    产品信息 特点 nanoSAQLA 的特点 1个单元可轻松连续测量5个样品 实现了 在没有自动进样器的情况下难以 实现的 多个样品的 连续测量， 也可以通过改变每个样品的条件进行...
  • 多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLA
    多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLA
    产品信息 特点 只需一台，轻松实现5检体连续测量 低浓度到高浓度都可对应 高速测量，标准时间1分钟 搭载了简单的测量功能 (1键测量) 内置非浸泡型的cell block，无分注...
  • 粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S
    粒径 · 分子量测量系统 ELSZ-2000S
    产品信息 特点 藉由最新型的高感度APD，提高感光度，缩短测量时间。 搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性，相变温度。 可测量0～90℃宽阔的温度范围。 增加了大范...
  • zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    产品信息 特点 多角度测量，分辨率更高 粒子浓度测量 微流变学测量 凝胶网络结构分析 新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位 温度梯度功能 可对应从...
  • ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性・相转移温度 可测量0～90℃大范围内的温度 追加了大范围的...
  • ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性・相转移温度 可测量0～90℃大范围内的温度 追加了大范围的...
  • ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性・相转移温度 可测量0～90℃大范围内的温度 追加了大范围的...
  • zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    产品信息 特点 多角度测量，分辨率更高 粒子浓度测量 微流变学测量 凝胶网络结构分析 新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位 温度梯度功能 可对应从...
  • ZETA电位测量系统 ELSZ-2000Z
    ZETA电位测量系统 ELSZ-2000Z
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性・相转移温度 可测量0～90℃大范围内的温度 追加了大范围的...
  • zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    产品信息 特点 多角度测量，分辨率更高 粒子浓度测量 微流变学测量 凝胶网络结构分析 新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位 温度梯度功能 可对应从...
  • zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
    产品信息 特点 多角度测量，分辨率更高 粒子浓度测量 微流变学测量 凝胶网络结构分析 新型平板cell unit 标准flow cell unit 可连续测量粒径zeta 电位 温度梯度功能 可对应从...
  • ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    ZETA电位･粒径･分子量测系统 ELSZ-2000ZS
    产品信息 特点 使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性・相转移温度 可测量0～90℃大范围内的温度 追加了大范围的...

测量机器/ Measuring machine 查看更多+

  • 量子效率测量系统 QE-2000/2100
    量子效率测量系统 QE-2000/2100
    产品信息 特 点 测量精度高 可瞬间测量绝对量子效率（绝对量子收率） 可去除再激励荧光发光 采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系 采用了低迷光多通道分光检出器...
  • 膜厚量测仪 FE-300
    膜厚量测仪 FE-300
    产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由绝对反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能 无复杂设定，操...
  • 膜厚量测仪 FE-300
    膜厚量测仪 FE-300
    产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由绝对反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能 无复杂设定，操...
  • 膜厚量测仪 FE-300
    膜厚量测仪 FE-300
    产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由绝对反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能 无复杂设定，操...
  • 液晶层间隙量测设备 RETS series
    液晶层间隙量测设备 RETS series
    产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查...
  • 相位差测量装置 RETS-100nx New
    相位差测量装置 RETS-100nx New
    产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查...
  • 彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series
    彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series
    产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置 可用于彩色滤光片的光学特...
  • 嵌入式膜厚检测仪
    嵌入式膜厚检测仪
    产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利 第4834847号） 使用光学光纤，可灵活构筑测量系统 可嵌入至各种制造设备。 实时测量膜厚 可对应远程...
  • 高速LED光学特性仪 LE series
    高速LED光学特性仪 LE series
    产品信息 特 点 与产线的控制信号同步 通过光纤的自由的测试系统 实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400） 同以往的产品相比，测量・演算・评价1个周期有可到半分钟以下的...
  • Load Port对应膜厚测量系统 GS-300
    Load Port对应膜厚测量系统 GS-300
    产品信息 特点 支持集成到 Φ300mm EFEM 单元的备用端口 实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐 支持半导体工艺的高吞吐量要求 支持槽口对齐功能 小尺寸规格 高精度自动...
  • 分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
    分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
    即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现...
  • 多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应...
  • 嵌入式膜厚检测仪
    嵌入式膜厚检测仪
    产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利 第4834847号） 使用光学光纤，可灵活构筑测量系统 可嵌入至各种制造设备。 实时测量膜厚 可对应远程...
  • 相位差测量装置 RETS-100nx New
    相位差测量装置 RETS-100nx New
    产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查...
  • 高速相位差测量装置 RE-200
    高速相位差测量装置 RE-200
    产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于世界最快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的测量项目...
  • 分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
    分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
    即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现...
  • 多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应...
  • 嵌入式膜厚检测仪
    嵌入式膜厚检测仪
    产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利 第4834847号） 使用光学光纤，可灵活构筑测量系统 可嵌入至各种制造设备。 实时测量膜厚 可对应远程...
  • 线扫描膜厚仪【在线型】
    线扫描膜厚仪【在线型】
    产品信息 特点 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量（已获取专利） 实现高速测量 不受偏差影响...
  • 线扫描膜厚仪【离线型】
    线扫描膜厚仪【离线型】
    产品信息 特点 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量（已取得专利） 实现高速...
  • 非接触式光学膜厚仪 Emios
    非接触式光学膜厚仪 Emios
    产品信息 特长 非接触式测量不透明、粗糙，易变形的样品 反复性・再现性高 无标准曲线也可知道绝对厚度 测量径很小，不受斑点的影响 样品位置无需调整，放进去即可...
  • 显微分光膜厚仪 OPTM series
    显微分光膜厚仪 OPTM series
    产品信息 特点 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度绝对反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外...
  • 光谱椭偏仪 FE-5000/5000S
    光谱椭偏仪 FE-5000/5000S
    产品信息 特点 可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数 可分析纳米级多层薄膜的厚度 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱 通过可变反射角测...
  • 高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000 New
    高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000 New
    产品信息 特殊长度 可以测量0.01%或更低的单线态氧的产生量子产率。 单线态氧 (1270 nm) 的简单直接光谱观察 可在用于生物应用等的水性溶剂中测量。 传统方法难以在轻溶...
  • 用于反射率测量的多通道光谱仪 MCPD series
    用于反射率测量的多通道光谱仪 MCPD series
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应...
  • 用于透射率/吸光度测量的多通道光谱仪 MCPD series
    用于透射率/吸光度测量的多通道光谱仪 MCPD series
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应...
  • 线扫描膜厚仪【离线型】
    线扫描膜厚仪【离线型】
    产品信息 特点 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量（已取得专利） 实现高速...
  • 线扫描膜厚仪【在线型】
    线扫描膜厚仪【在线型】
    产品信息 特点 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量（已获取专利） 实现高速测量 不受偏差影响...
  • 显微分光膜厚仪 OPTM series
    显微分光膜厚仪 OPTM series
    产品信息 特点 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度绝对反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外...
  • 椭偏仪 FE-5000/5000S
    椭偏仪 FE-5000/5000S
    产品信息 特点 可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数 可分析纳米级多层薄膜的厚度 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱 通过可变反射角测...
  • 分光配光测量系统 GP series
    分光配光测量系统 GP series
    产品信息 特殊长度 支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量 还支持有机EL和大型显示器的光分布测量 可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布，并通过球带...
  • 相位差测量装置 RETS-100nx New
    相位差测量装置 RETS-100nx New
    产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查...
  • 高速相位差测量装置 RE-200
    高速相位差测量装置 RE-200
    产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于世界最快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的测量项目...
  • 膜厚测量系统 FE-3700/5700
    膜厚测量系统 FE-3700/5700
    产品信息 特殊长度 可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。 除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。...
  • 用于反射率测量的多通道光谱仪 MCPD series
    用于反射率测量的多通道光谱仪 MCPD series
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应...
  • 用于透射率/吸光度测量的多通道光谱仪 MCPD series
    用于透射率/吸光度测量的多通道光谱仪 MCPD series
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应...
  • 彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series
    彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series
    产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置 可用于彩色滤光片的光学特...
  • 高灵敏度光谱仪 HS-1000
    高灵敏度光谱仪 HS-1000
    特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 独特的光...
  • 液晶层间隙量测设备 RETS series
    液晶层间隙量测设备 RETS series
    产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查...
  • 用于颜色测量的多通道光谱仪 MCPD series
    用于颜色测量的多通道光谱仪 MCPD series
    产品信息 特长 根据用途的各种检测器的阵容 以最高档次的机型MCPD-9800为首，拥有两个系列，共达9个波长范围的检测器型号。 可配合客户的需求与测量用途，选择最适合...
  • 彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series
    彩色滤光片分光特性测量装置 LCF series
    产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置 可用于彩色滤光片的光学特...
  • 高感度NIR量子效率测量系统 QE-5000
    高感度NIR量子效率测量系统 QE-5000
    产品信息 特殊长度 可以测量0.01%或更低的单线态氧的产生量子产率。 单线态氧 (1270 nm) 的简单直接光谱观察 可在用于生物应用等的水性溶剂中测量。 传统方法难以在轻溶...
  • 用于发光/荧光测量的多通道光谱仪 MCPD series
    用于发光/荧光测量的多通道光谱仪 MCPD series
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应...
  • 量子效率测量系统 QE-2100
    量子效率测量系统 QE-2100
    产品信息 特殊长度 坚持高精度测量 可即时测量绝对量子效率（绝对量子产率） 可去除再激发荧光发射 采用积分半球单元，实现明亮的光学系统。 低杂散光多通道光谱检...
  • 高速LED光学特性监控仪 LE series
    高速LED光学特性监控仪 LE series
    产品信息 特 点 与产线的控制信号同步 通过光纤的自由的测试系统 实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400） 同以往的产品相比，测量・演算・评价1个周期有可到半分钟以下的...
  • 高感度分光放射亮度仪 HS-1000
    高感度分光放射亮度仪 HS-1000
    产品信息 特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm）...
  • 多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应...
  • 分光配光测量系统 GP series
    分光配光测量系统 GP series
    产品信息 特殊长度 支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量 还支持有机EL和大型显示器的光分布测量 可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布，并通过球带...
  • 紫外分光配光测量系统
    紫外分光配光测量系统
    产品信息 特征 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 支持从 LED 芯...
  • 紫外分光辐射照度测量系统 New
    紫外分光辐射照度测量系统 New
    产品信息 特征 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围 带软件的...
  • 紫外分光辐射亮度计
    紫外分光辐射亮度计
    产品信息 特征 可以测量紫外线 LED 的辐射度 兼容符合 JIS C 7550 的测量规格 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅） 支持 CIE 推荐的宽波长范围（355nm 至 835n...
  • 紫外分光全光谱光通量测量系统
    紫外分光全光谱光通量测量系统
    产品信息 特征 具有高灵敏度检测器的宽测量范围 具有紫外线自吸收校正的高精度测量 配备温度控制单元，可从-110C进行温度控制 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 电源...
  • 总光谱光通量测量系统 HM/FM series
    总光谱光通量测量系统 HM/FM series
    产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸（积分球或积分...
  • 分光辐射照度测量系统
    分光辐射照度测量系统
    产品信息 特殊长度 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线...
  • Load Port对应膜厚测量系统 GS-300
    Load Port对应膜厚测量系统 GS-300
    产品信息 特点 支持集成到 300mm EFEM 单元的备用端口 实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐 支持半导体工艺的高吞吐量要求 支持槽口对齐功能 小尺寸规格 高精度自动...
  • 分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
    分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
    即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现...
  • 超高速分光涉式膜厚计
    超高速分光涉式膜厚计
    以非接触方式测量晶圆等的研磨和抛光工艺，超高速、实时、高精度测量晶圆和树脂 产品详细信息 特点 非接触式，非破坏性厚度测量 反射光学系统（可从一侧接触测量...
  • 非接触式光学膜厚计 Emios
    非接触式光学膜厚计 Emios
    产品信息 特长 非接触式测量不透明、粗糙，易变形的样品 反复性・再现性高 无标准曲线也可知道绝对厚度 测量径很小，不受斑点的影响 样品位置无需调整，放进去即可...
  • 线扫描膜厚仪【在线型】
    线扫描膜厚仪【在线型】
    产品信息 特点 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量（已获取专利） 实现高速测量 不受偏差影响...
  • 线扫描膜厚仪【离线型】
    线扫描膜厚仪【离线型】
    产品信息 特点 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量（已取得专利） 实现高速...
  • 嵌入式膜厚仪 FE-5000/5000S
    嵌入式膜厚仪 FE-5000/5000S
    产品信息 特点 可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数 可分析纳米级多层薄膜的厚度 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱 通过可变反射角测...
  • 嵌入式膜厚检测仪
    嵌入式膜厚检测仪
    产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利 第4834847号） 使用光学光纤，可灵活构筑测量系统 可嵌入至各种制造设备。 实时测量膜厚 可对应远程...
  • 显微分光膜厚仪 OPTM series
    显微分光膜厚仪 OPTM series
    产品信息 特点 头部集成了薄膜厚度测量所需功能 通过显微光谱法测量高精度绝对反射率（多层膜厚度，光学常数） 1点1秒高速测量 显微分光下广范围的光学系统（紫外...
  • 膜厚测量用途多通道光谱仪 MCPD series
    膜厚测量用途多通道光谱仪 MCPD series
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应...
  • 高感度分光辐射亮度计 HS-1000
    高感度分光辐射亮度计 HS-1000
    特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 独特的光...
  • 多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
    产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适合的方案。 不同评价方法对应...
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大塚电子(苏州)有限公司

      公司简介 大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源・照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价・检查。 以高速・高精度・高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础， 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例， 为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源・照明 相关方面，对国家级研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。 在中国的苏州有设立售后服务点，为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。 我公司的母公司日本大塚电子集团，隶属于大冢集团， 一直以...

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