导航
导航
公司首页
公司介绍
公司简介 业务内容 企业理念 关联企业
产品信息
分析仪器 测量仪器
讲习会
资料下载
产品目录 技术资料 论文 SDS
技术情报
应用案例 在线学习
新闻咨询
公司新闻 行业新闻
服务与支持
登录
NEWS INFORMATION
新闻资讯
3/30
对于半导体前工序的多种需求-大塚膜厚仪的特点和作用
本次研讨会介绍我司膜厚仪产品在半导体前工序，从裸晶片到配线工序的特点及应用。研讨会内容涉及半导体制造工序、晶圆厚度和氧化膜膜厚测量技术等。
查看详情
3/3
光波动场三次元显微镜的介绍
MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
查看详情
1/26
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
1.VR pancake模组的偏光片贴合角、相 位差测量 2.LCoS液晶盒盒厚检测 3.Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估 4.透光多层材料中的异物检测 5.和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发
查看详情
<>