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膜厚设备介绍（smart膜厚仪）

应用领域：光学膜、接着剂、硬化涂层、半导体光刻胶、食品用薄膜、医疗用薄膜等。

对于半导体前工序的多种需求大塚膜厚仪的特点和作用

● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成。 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。

光波动场三次元显微镜MINUK的介绍

大塚电子MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。