日本語   |   English

您的位置: 首页-展会·讲习会-展会一览-2024

大塚电子参与CIOE中国光博会

■尖端半导体及将来应用AI、机器学习、5G/6G通信技术、量子计算、汽车(EV、自动驾驶)、VR/金属泊位、宇宙、空移动性/无人机■半导体制造装置半导体用设计装置、掩模制造用装置、晶片制造用装置、晶片工艺用装置、组装用装置、检查用装置、其他关联装置■半导体制造用零件、材料工艺材料、测试材料、组装材料、基板、零件子系统■各种服务・软件
展会名称 大塚电子参与CIOE中国光博会
展会时间 2022-09-07~2022-09-09
举办展馆 CIOE中国光博会展览中心

展会详细

大塚电子(苏州)有限公司将参加2022年CIOE中国光博会,展出位置:13号馆13E21,将展出的产品有:OPTM 显微分光膜厚仪、ELSZ  粒径、界达电位测试仪、MCPD,欢迎您前来免费参观。


产品介绍:

膜厚测量中必要的功能集中于头部。 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)。 1点只需不到1秒的高速tact。 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近红外)。 通过区域传感器控制的安全构造。 搭载可私人定制测量顺序的强大功能。 即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数。 各种私人定制对应(固定平台,有嵌入式测试头式样)。

产品介绍:

对应高盐浓度溶液界达电位 。 可量测0-90℃宽阔的温度范围。 可量测悬浊度的高浓度样本粒径。 搭载自动温度梯度测量功能,可分析变性、相变温度。 通过最新型的高感度APD提高感光度,成功缩短了量测时间。 规格样式 测试范围 0.3nm-10μm 界达电位 -200-200mV 分子量 369-2000×104

产品介绍:

产品特点 光谱仪(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供丰富选配套件以及客制化光纤。 可依据安装现场需求评估设计。 可灵活架设于各种环境下的最佳即时量测系统。


Copyright © 2021-2025 大塚电子有限公司 All rights reserved.  备案号:苏ICP备13028874号-1

0512-62589919