大塚电子（苏州）有限公司-公司新闻

• 2022-09-07Inline分光计测仪器 -为提升品质做出贡献

  平板显示器、包装用薄膜、光学薄膜等领域出现了各种各样的产品，特别是在这些产品中，光学特性成为最重要的特性之一.推荐大塚电···

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• 2022-08-18ZETA电位分析仪的测量方法是什么？

  由于分散粒子表面带有电荷而吸引周围的反号离子,这些反号离子在两相界面呈扩散状态分布而形成扩散双电层.根据Stern双电层···

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• 2022-08-17大塚电子（苏州）有限公司将于2022年9月7-9日参与CIOE中国光博会

  大塚电子（苏州）有限公司将参加2022年CIOE中国光博会，展出位置：13号馆13E21，将展出的产品有：OPTM 显微···

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• 2022-08-11膜厚仪的测厚方法有什么?

  通过薄膜上下层的反射谱,测量薄膜的厚度和光学常数(n、k值).可用于光刻胶膜层、氧化物或氮化物膜层、硅和其它半导体膜层等···

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• 2022-08-09ZETA电位分析仪测量方法有哪些,

  由于分散粒子表面带有电荷而吸引周围的反号离子,这些反号离子在两相界面呈扩散状态分布而形成扩散双电层.根据Stern双电层···

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• 2022-08-09塑料容器的ZETA电位评价

  图1为各容器表面ZETA电位的pH滴定结果。其结 果显示，PE与PP在pH=4时达到等电点。另一方面，氟化的PFA在pH···

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