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卷对卷(Roll to Roll)高速在线膜厚监控

作者:超级管理员时间:2024-07-26 01:20:2268 次浏览

信息摘要:

在各种高分子领域中,卷对卷的膜层涂布是其中一段生产过程,在监控膜厚时为了保持商品的完整性,无法以接触式方法量测。...

    在各种高分子领域中,卷对卷的膜层涂布是其中一段生产过程,在监控膜厚时为了保持商品的完整性,无法以接触式方法量测。

    而在生产速度等于产值下,卷膜速度越快代表产量越高。卷膜速度除了考验生产机台本身以外,对光学式量测膜厚的稳定度也是一大考验。因为卷对卷通常都会有一定程度的震动,速度越快震动幅度越大,十分考验膜厚仪的感度(曝光时间)以及稳定度。

下面实际呈现产线以极限速度(150m/min & 200m/min)卷对卷生产条件下,MCDP光谱仪对膜厚的监控数据。

测量条件 MCPD-9800(311) Fiber

波长测量范围:400~760nm

自动曝光时间:6msec

积算次数:4次

测量光斑(Spot size):约3mm

工作距离:约10mm

系统构成

1-21091GAAB01.png  将光纤探头布置于涂布工序在线监控膜厚

1-21091GAG2C4.png MCPD-9800多通道光谱仪及分析软件




        1-21091GA409200.png


     

我们可以先以静止测量来观察机台本身稳定度,标准偏差为0.0056μm,相对平均值而言大约为0.028%。接着可以看到150m/min & 200m/min速度下卷膜时,厚度的变动。高速运转下量测之稳定性较差,但膜厚数值差异不大。


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