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4/24
膜厚设备介绍（smart膜厚仪）
应用领域：光学膜、接着剂、硬化涂层、半导体光刻胶、食品用薄膜、医疗用薄膜等。
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3/27
对于半导体前工序的多种需求 大塚膜厚仪的特点和作用
● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成。 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率 的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。
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2/26
光波动场三次元显微镜MINUK的介绍
大塚电子MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
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2025-04
膜厚设备介绍（smart膜厚仪）
应用领域：光学膜、接着剂、硬化涂层、半导体光刻胶、食品用薄膜、医疗用薄膜等。
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2025-03
对于半导体前工序的多种需求 大塚膜厚仪的特点和作用
● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成。 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率 的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。
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2025-02
光波动场三次元显微镜MINUK的介绍
大塚电子MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
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2025-02
晶圆和浆料静电相互作用的评估与半导体工艺技术简介
大塚电子（苏州）有限公司产品讲解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等
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2025-01
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
VR pancake模组的偏光片贴合角、相位差测量、LCoS液晶盒盒厚检测Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估、和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发
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2024-12
DLS测量手法及技巧介绍（2024/12/18）
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等测量设备或对此有兴趣的人。
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2024-10
平板状·薄膜状样品的ZETA 电位测量与应用的介绍（2024/11/27）
大塚电子的 Zeta 电位测量系统“ELSZ 系列”不仅可以测量溶液中胶体粒子的 Zeta 电位，也可以测量平板状、薄膜状样品的 Zeta 电位。通过这样的测量可以评价平板状样品的表面改质状态以及液体中粒子的吸着特性。本次研讨会将介绍其应用。
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2024-09
纳米粒度仪的基本操作&故障排除-苏州线上讲习会（2024-10-23）
无法测试出预想的结果，测试数据波动这么大？是设置环境的不当？运用方法不对？ 还是测试条件设置有误？如果您也有同样的困惑，请记得务必参加我司的网络学习会。
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2024-05
晶圆和研磨液静电相互作用的评价方法和半导体制程技术介绍（2024-07-24）
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
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2024-04
偏光片相位差·吸收轴测试原理及应用案例-苏州线上讲习会（2024-5-22）
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
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2024-04
纳米粒度和ZETA电位设备在生物医药行业的应用(2024-04-24 )
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
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2024-01
膜厚度测量(反射分光)的原理和应用介绍-2024-2-28
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
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2023-11
RETS测试原理&应用-苏州线上讲习会（2023-12-6）
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
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2023-11
平板ZETA电位测量-苏州线上讲习会（2023-11-22）
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
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2023-08
9月 WEBINAR(网络研讨会)-大塚电子网络研讨会-膜厚测量应用
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2023-08
9月 Webinar(网络研讨会)-大塚电子网络研讨会-粒径应用篇
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置.其产品包括：纳米粒度仪,薄膜厚度测厚仪,非接触薄膜测厚仪,湿膜测厚仪,激光粒度仪,激光粒度分析仪,激光粒度测定仪,纳米粒度仪,粒度分析仪.是zeta电位测定仪厂家,点击了解价格和报价...
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2022-09
Inline分光计测仪器 -为提升品质做出贡献
平板显示器、包装用薄膜、光学薄膜等领域出现了各种各样的产品，特别是在这些产品中，光学特性成为最重要的特性之一.推荐大塚电子-Inline分光计测仪器。...
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2022-08
大塚电子（苏州）有限公司将于2022年9月7-9日参与CIOE中国光博会
大塚电子（苏州）有限公司将参加2022年CIOE中国光博会，展出位置：13号馆13E21，将展出的产品有：OPTM 显微分光膜厚仪、ELSZ 粒径、界达电位测试仪、MCPD，欢迎您前来免费参观。...
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2021-09
卷对卷(Roll to Roll)高速在线膜厚监控
在各种高分子领域中，卷对卷的膜层涂布是其中一段生产过程，在监控膜厚时为了保持商品的完整性，无法以接触式方法量测。...
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2021-08
大塚电子即将亮相深圳国际纳米材料及技术展览会
展期：2021年9月9~11日 展馆：深圳国际会展中心（新馆） 地址：深圳市宝安区展城路1号 展位号：8号馆8A01C（3号门） 纳米材料行业解决方案 纳米材料包括：纳米碳纳米材料（石墨烯、富...
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