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新闻资讯
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膜厚设备介绍（smart膜厚仪）
应用领域：光学膜、接着剂、硬化涂层、半导体光刻胶、食品用薄膜、医疗用薄膜等。
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对于半导体前工序的多种需求 大塚膜厚仪的特点和作用
● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成。 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率 的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。
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光波动场三次元显微镜MINUK的介绍
大塚电子MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
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2021-07
Otsuka 大塚电子携最新实验室测量设备亮相ICIF China 2020中国国际化工展览会
9月16日到9月18日大塚电子（苏州）有限公司携其最新粒度仪设备nanoSAQLA、ZETA电位核心技术产品ELSZ-200ZS及量子效率测试系统亮相ICIF China 2020中国国际化工展览会作为粒度仪行业的知名领先...
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2021-07
大塚电子与您相约第22届高交会！
大塚电子（苏州）有限公司 诚邀您莅临展位参观、洽谈 展位号：3号馆-3D11 2020.11.11-15 深圳会展中心(福田)...
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2021-07
大塚电子参加第十七届上海国际胶粘带保护膜及功能膜展览会
大塚电子参加第十七届上海国际胶粘带保护膜及功能膜展览会...
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2021-07
【大塚电子新产品】线扫描膜厚仪实现薄膜的线扫描膜厚测量
近年来工作方式改革和新型冠状病毒感染症（COVID-19）使得外出受到限制，居家办公、电话办公、Web会议普及等，工作方式发生了很大的变化。笔记本电脑、平板电脑为代表的显示器件成...
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2021-07
大塚电子参加第二十二届中国国际高新技术成果交易会
大塚电子(苏州)有限公司 诚邀您莅临展位参观、洽谈 展位号:3号馆-3D11 2020.11.11-15 深圳会展中心(福田)...
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2021-07
Webinar 【粒径与ZETA电位的测量原理和应用介绍】
利用光技术开发出各种分析测量装置的大塚电子，给客户提供尖端测量技术支持。以测量技术、应用示例等重点介绍为主，举办Webinar.邀请你的参加，并参与一起讨论。
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