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测量机器

    • 分光配光测量系统 GP series
      产品信息 特殊长度 支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量 还支持有机EL和大型显示器的光分布测量 可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布,并通过球带系数法获得总...
    • 液晶层间隙量测设备 RETS series
      产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置,从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设备 测量项目...
    • OPTM series 嵌入型
      利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点,在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。...
    • 膜厚测量系统 FE-3700/5700
      产品信息 特殊长度 可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。 除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外,它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。 用法 LCD ITO...
    • 彩色滤光片、彩色光刻胶测量装置 LCF SERIES
      产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表,通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等,可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置 可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板...
    • 用于透过率/吸光度测量的多通道光谱仪MCPD series
      是从紫外到近红外领域对应的多功能多通道分光检测器。最短5ms即可进行光谱测量。标准装置的光纤可支持各种测量系统,而无需确定样品种类。以显微分光、光源发光、透射、反射测定为首,通过与软件的组合,也可以对应物体颜色评价、膜厚测定等。...
    • 高灵敏度光谱仪 HS-1000
      特点: 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法(衍射光栅), 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量, 对应CIE推荐的宽波长范围(355 nm至835 nm) 独特的光学系统降低了...

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