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高速相位差测量装置 RE-200

高速相位差测量装置 RE-200

产品信息 特 点 可测从0nm开始的低(残留)相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) (相当于世界最快速的0.1秒以下来处理) 无驱动部,重复再现性高 设置的测量项目少,测量简单...

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0512-62589919
产品介绍
  • 产品信息
  • 原 理
  • 规 格
  • 测量示例

    产品信息

    特 点

可测从0nm开始的低(残留)相位差
光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
(相当于世界最快速的0.1秒以下来处理)
无驱动部,重复再现性高
设置的测量项目少,测量简单
测量波长除了550nm以外,还有各种波长
Rth测量、全方位角测量
(需要option的自动旋转倾斜治具
通过与拉伸试验机组合,可同时评价膜的偏光特性和光弾性
 (本系统属特注。)

    测量项目

相位差(ρ[deg.], Re[nm])
主轴方位角(θ[deg.])
椭圆率(ε)?方位角(γ)
三次元折射率(NxNyNz)

    用 途

位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
树脂、玻璃等透明、非均质材料(玻璃有变形,歪曲等)

    原 理

什么是RE-200
RE-200是光子结晶素子(偏光素子)、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合,可高速且高精度的测量位相差(相位差)、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式,没有偏光子旋转的机构,系统整体上是属于小型构造,长时间使用也能维持稳定的性能。


执行拟合/傅立叶变换以计算椭圆度 ε 和方位角 γ。

     

    规 格

                    型号

                    RE series

                    样品尺寸

                    最小10×10mm ~最大100×100mm

                    测量波长

                    550nm (标准仕样)※1

                    相位差测量范围

                    约0nm ~约1μm

                    轴检出重复精度

                    0.05°(at 3σ) ※2

                    检出器

                    偏光计测模块

                    测量光斑直径

                    2.2mm×2.2mm

                    光源

                    100W 卤素灯或 LED光源

                    本体?重量

                    300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、约20kg

 Option
Rth测量、全方位角测量※治具本体(旋转:180°, 倾斜:±50°)
动旋转倾斜治具

测量示例

视角改善膜A

视角改善膜B



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