日本語   |   English

您的位置： 首页-产品信息-测量机器-光源照明评价仪器-总光谱光通量测量装置

产品信息

相关新闻

  • 纳米Zeta电位的定义和原理
  • 测量Zeta电位在生物医学工程中的应···
  • 激光散射法在Zeta电位测量中的应用
  • 微流体技术在Zeta电位测量中的应用
  • 利用电泳法测量Zeta电位：一种评估···
  • Zeta电位测量在胶体和界面科学中的···
  • 纳米Zeta电位与其他分析技术的联合···
  • 纳米Zeta电位的计算和模拟方法发展···

    • 总光谱光通量测量装置

    • 总光谱光通量测量系统 HM/FM series
      总光谱光通量测量系统 HM/FM series
      产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从250毫
    总光谱光通量测量装置-大塚电子（苏州）有限公司
    总光谱光通量测量装置-非接触薄膜测厚仪-膜厚测量仪-激光粒度仪-激光粒度分析仪-大塚电子
    微信咨询
    咨询热线
    0512-62589919
    • 联系我们
    • 邮 箱：oes@cn.otsuka.com‬
    • 电 话：0512-62589919
    • 传 真：0512-62589919
    • 地 址：苏州工业园区苏州大道西2号
    • 国际大厦1101-1105室

    Copyright © 2021-2025 大塚电子有限公司 All rights reserved. 　备案号：苏ICP备13028874号-1

    LINKS

    0512-62589919