以高速・高精度・高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础，在中国的显示器市场上有着20年以上销售实例，为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源・照明相关方面，对国家级研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。
我们的产品涵盖LED、OLED等光源和照明行业，液晶和有机EL显示的光学特性评估设备、测量半导体晶圆和薄膜厚度的设备，以及评估墨水、研磨剂、医药和化妆品材料的纳米颗粒（粒径和ζ电位）设备。
大塚电子利用光技术，开发出各种分析测量装置，给客户提供尖端测量技术支持。
讲习会内容涉及粒径&ZETA电位的测量原理和最新的测量案例介绍（炭黑，有机溶剂，碳纳米管）
应用领域：光学膜、接着剂、硬化涂层、半导体光刻胶、食品用薄膜、医疗用薄膜等。
● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。
MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
大塚电子（苏州）有限公司产品讲解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等
VR pancake模组的偏光片贴合角、相位差测量、LCoS液晶盒盒厚检测Micro OLED薄膜厚度、彩色滤光片特性评估、和上述关联的AR/VR/MR/XR终端研发
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等测量设备或对此有兴趣的人。
大塚电子的 Zeta 电位测量系统“ELSZ 系列”不仅可以测量溶液中胶体粒子的 Zeta 电位，也可以测量平板状、薄膜状样品的 Zeta 电位。通过这样的测量可以评价平板状样品的表面改质状态以及液体中粒子的吸着特性。本次研讨会将介绍其应用。
无法测试出预想的结果，测试数据波动这么大？是设置环境的不当？运用方法不对？ 还是测试条件设置有误？如果您也有同样的困惑，请记得务必参加我司的网络学习会。
AR/VR/MR/XR行业测量方案介绍
